[发明专利]铅笔笔头缺陷的检测装置无效

专利信息
申请号: 201310740975.3 申请日: 2013-12-30
公开(公告)号: CN103698343A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 沈安祺;王培源;金钰龙;刘超 申请(专利权)人: 上海瑞伯德智能系统科技有限公司
主分类号: G01N21/89 分类号: G01N21/89
代理公司: 上海世贸专利代理有限责任公司 31128 代理人: 严新德
地址: 200335 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 铅笔 笔头 缺陷 检测 装置
【说明书】:

技术领域:

发明涉及物理领域,尤其涉及影像检测技术,特别涉及铅笔产品的缺陷检测,具体的是一种铅笔笔头缺陷的检测装置。

背景技术:

部分铅笔在出厂前需要削尖笔头,削尖后的笔头可能存在笔芯颜色与笔杆不匹配、泵芯、断芯、偏芯、伤缺、过尖、过平、胶合处开裂等缺点,因此需要对削尖后的笔头进行合格性检测。现有技术中,对削尖后的笔头的合格性检测由人工完成。通常一位工人在一分钟之内需要检测数百支铅笔,因此往往发生错检、漏检。

发明内容:

本发明的目的在于提供一种铅笔笔头缺陷的检测装置,所述的这种铅笔笔头缺陷的检测装置要解决现有技术中人工检测铅笔笔头过程中劳动强度大、容易发生错检和漏检的技术问题。

本发明的这种铅笔笔头缺陷的检测装置,包括支架、照片采集器和光源,所述的照片采集器中包括镜头,其中,所述的照片采集器设置在支架的上部,支架的下部设置有两个平面反射镜,照片采集器的镜头朝向支架的下部,所述的两个平面反射镜分别位于镜头光轴的两侧且分别与镜头光轴呈小于90度的夹角,所述的光源呈环形,光源设置在支架的侧面、两个平面反射镜的后上方。两个平面反射镜均经过镀膜处理,可保证两侧图像的大小和亮度基本与主像一致。

进一步的,支架的前方设置有一个传送带,所述的传送带平行于水平面,传送带在垂直于水平面的方向上位于光源圆心的下方、两个平面反射镜的上方。

进一步的,照片采集器连接有控制器,所述的控制器中包括照片采集控制模块和图形分析模块。

进一步的,所述的两块平面反射镜呈V形设置。

进一步的,两个平面反射镜上均设置有镀膜。

进一步的,镜头的光轴垂直于传送带。

进一步的,所述的光源是白光光源。

本发明的工作原理是:将铅笔平行排列在传送带上,削尖后的笔头延伸到传送带的外侧并位于两个平面反射镜的上方。环形的光源照亮笔头的整个圆周,可将笔头的缺陷更加明显地突显出来。照片采集器从笔头的上方拍摄笔头,同时拍摄两个平面反射镜中的笔头的影像,从而获得笔头的整个圆周的影像。由控制器中的图形分析模块对比采集到的影像和合格产品的标准影像,从而实现合格性检测。

本发明和已有技术相比较,其效果是积极和明显的。本发明利用环形的光源照亮笔头的整个圆周,可将笔头的缺陷更加明显地突显出来,利用照片采集器和两个平面反射镜只拍摄一张照片即可采集笔头的整个圆周的影像,由控制器中的图形分析模块对比采集到的影像和合格产品的标准影像,从而实现合格性检测,能够稳定有效地把笔头的各种缺陷检测出来,从而保证成品的质量。本发明可替代大量的人工,并可应用在高速生产线上,提高了生产效率。

附图说明: 

图1是本发明的铅笔笔头缺陷的检测装置的示意图。

图2是本发明的铅笔笔头缺陷的检测装置的俯视图,图2中未画出照片采集器。

图3是本发明的铅笔笔头缺陷的检测装置的一个实施例的侧视图。

图4是本发明的铅笔笔头缺陷的检测装置的一个实施例的俯视图。

图5是本发明的铅笔笔头缺陷的检测装置的一个实施例的左视图。

具体实施方式:

实施例1:

如图1、图2、图3、图4和图5所示,本发明的铅笔笔头缺陷的检测装置,包括支架4、照片采集器1和光源2,所述的照片采集器1中包括镜头,其中,所述的照片采集器1设置在支架4的上部,支架4的下部设置有两个平面反射镜3,照片采集器1的镜头朝向支架4的下部,所述的两个平面反射镜3分别位于镜头光轴的两侧且分别与镜头光轴呈小于90度的夹角,所述的光源2呈环形,光源2设置在支架4的侧面、两个平面反射镜3的后上方。两个平面反射镜均经过镀膜处理,可保证两侧图像的大小和亮度基本与主像一致。

进一步的,支架4的前方设置有一个传送带6,所述的传送带6平行于水平面,传送带6在垂直于水平面的方向上位于光源2圆心的下方、两个平面反射镜3的上方。

进一步的,照片采集器1连接有控制器(图中未示),所述的控制器中包括照片采集控制模块和图形分析模块。

进一步的,所述的两个平面反射镜3呈V形设置。

进一步的,两个平面反射镜3上均设置有镀膜。

进一步的,镜头的光轴垂直于传送带6。

进一步的,所述的光源2是白光光源。

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