[发明专利]采用烧结工艺制造高压大功率晶闸管的方法有效
申请号: | 201310731526.2 | 申请日: | 2013-12-26 |
公开(公告)号: | CN103700591A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | 张洪伟;于能斌;刘欣宇;王景波 | 申请(专利权)人: | 鞍山市华辰电力器件有限公司 |
主分类号: | H01L21/332 | 分类号: | H01L21/332 |
代理公司: | 鞍山嘉讯科技专利事务所 21224 | 代理人: | 张群 |
地址: | 114011 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 采用 烧结 工艺 制造 高压 大功率 晶闸管 方法 | ||
1.采用烧结工艺制造高压大功率晶闸管的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)工艺环境准备
将工艺环境中的空气双级过滤,过滤后的空气在10级以下;
(2)超声波清洗
首先将硅片超声波除砂1小时以上,氢氟酸超声波清洗1小时以上,分别用常温和70℃的去离子水冲洗,用去离子水超声波清洗2小时以上,每30~35分钟更换一次去离子水,然后,用冷热去离子水交替冲洗四遍;
(3)硅片漂洗
将超声波除砂后的硅片放入1#液中,1#液的体积比是氨水:过氧化氢:去离子水=1:2:5,在加热器上煮5~6分钟后取出,用去离子水冲洗10~15遍,换上洁净的1#液重复煮一遍,再用冷热去离子水交替冲洗20~25遍;将硅片取出放入2#液中,2#液的体积比是盐酸:过氧化氢:去离子水=1:2:7.在加热器上煮5~6分钟后取出,用去离子水冲洗10~12遍,换上洁净的2#液重复煮一遍,再用冷热去离子水交替各冲洗25~30遍,最后将清洗干净的硅片放入180℃烘箱中烘1小时以上;
(4)清洗石英架、石英砣
将石英架、石英砣放入体积比为H2O:HF=4:1的氢氟酸溶液中浸泡30~35分钟,然后,取出用冷热去离子水冲洗各20~25遍,放入180℃烘箱中烘1小时以上;
(5)硅片铝扩散
将硝酸铝以3g/100ml的比例溶于无水乙醇中,制成硝酸铝溶液作为铝扩散源,用涂胶机将铝源涂在硅片表面,然后将硅片叠放在石英架上,放到1250℃扩散炉中进行高温扩散,20~30小时以后闭炉;
(6)硅片硼扩散
将氧化硼以10g/100ml的比例溶于无水乙醇中,制成硼溶液作为硼扩散源,用涂胶机将硼源涂在硅片表面,然后将硅片摆放在石英架上,放到1250℃扩散炉中进行高温扩散,2~5小时以后闭炉;
(7)氧化
将硼扩散后的硅片放到1150℃氧化炉中做氧化,通水汽2小时以上、氧气1小时以上各两次,氧气流量500ml/分钟,时间到后闭炉;
(8)一次光刻
将氧化后的硅片需要刻图形的一面甩光刻胶,然后在80℃温度下烘干20~25分钟,冷却后在光刻机下曝光,曝光后在120#汽油溶液中显影10~15分钟,在乙酸丁酯中定影2~3分钟,之后在140℃温度下烘干,并将背面涂真空封蜡,再用光刻腐蚀液腐蚀,然后去胶烘干;
(9)磷扩散
将光刻好、合格的硅片,用1#液、2#液清洗干净,烘干后放到磷扩炉中,待炉温升到1200℃通磷源和氧气氮气保护气体,炉温升到1250℃时关闭磷源,停止升温,继续通保护气体,直到扩散炉降温到1000℃以下闭炉闭气;
(10)割圆
用高速割圆机将硅片图形以外的部分去掉;
(11)烧结
将装芯片的钢架推入真空烧结炉的恒温区中,开启真空泵及真空机组,当真空达2×10-3Pa时,推入烧结炉,在550℃恒温下加热15~20分钟,然后以每分钟2℃的速度升温到650℃,恒温加热15~20分钟后,再以每分钟2℃的速度降温至550℃,取下炉盖,自然降温至400℃时推离炉体,当温度低于200℃时,放气取出石墨船;
(12)蒸发
将烧结后的芯片放到蒸发台的载片台上,将高纯铝丝缠在钨丝电极上,盖上蒸发台罩,抽真空到2×10-3Pa,然后给钨丝电极加热,使电极上的铝蒸发出来,覆盖在芯片表面,将钨丝上的铝全蒸发完后,关闭蒸发电源,待机器蒸发室冷却后将芯片取出,测试铝膜厚度10um以上;
(13)合金
在真空合金炉中,530℃的温度下,恒温40~45分钟,使芯片表面铝与硅形成微合金;
(14)二次光刻
将合金后的芯片需要刻图形的一面甩光刻胶,在80℃温度下烘干20~25分钟,冷却后在光刻机下曝光,曝光后在120#汽油溶液中显影10~15分钟,更换120#汽油定影2~3分钟,在140℃温度下烘干,再用光刻腐蚀液腐蚀,然后去胶烘干;
(15)喷砂、磨角
将合金二次光刻后的芯片放到喷砂机的载片旋转头上,打开旋转电机按钮,打开喷砂机电源,喷砂嘴与芯片轴向夹角为55°,喷嘴头对芯片边缘往里2mm位置,检查气体压力10MPa,打开气体开关,开始喷砂,观察芯片边缘露出钼片0.5~1mm,关闭喷砂机;
将喷砂后的芯片在磨角机中,磨3°的角,使总磨角边宽达到5mm;
(16)旋转腐蚀、涂胶保护
将喷砂磨角后的芯片放到旋转腐蚀机中,用芯片腐蚀液腐蚀50~55秒,冲水40~45秒,之后取出,放到热板上烤干,再放到涂胶机上涂保护胶RTU116;
(17)测试、封装
将旋转腐蚀保护后的芯片放到真空烘箱中在180℃温度下老化72小时,测试封装。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造