[发明专利]利用叠前地震道集计算地层品质因数的方法及装置

权利要求书

1.一种利用叠前地震道集计算地层品质因数的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取叠前地震数据，并进行预处理；

对所述叠前地震数据进行叠加速度分析和解释，生成叠加速度；

从叠加剖面上识别和拾取反射层，利用所拾取的反射层时间和所述叠加速度提取反射波，得到所述反射波随炮检距变化的波形，生成反射波波形；

对所述反射波波形进行傅立叶变换，计算反射波振幅谱；

根据所述的反射波振幅谱，利用所述叠加速度、反射层时间以及滤波器振幅谱，计算得到层对数衰减量δ_n；

根据所述层对数衰减量，利用公式计算得到地层品质因数Q_n。

2.根据权利要求1所述的利用叠前地震道集计算地层品质因数的方法，其特征在于，所述获取叠前地震数据，并进行预处理，包括：

对所述叠前地震数据进行观测系统加载、道编辑和保幅去噪处理。

3.根据权利要求1所述的利用叠前地震道集计算地层品质因数的方法，其特征在于，对所述叠前地震数据进行叠加速度分析和解释，生成叠加速度，包括：

对所述叠前地震数据进行叠加速度分析，生成叠加速度谱；

对所述叠加速度谱进行解释，生成叠加速度。

4.根据权利要求1所述的利用叠前地震道集计算地层品质因数的方法，其特征在于，在从叠加剖面上识别和拾取反射层之前，还包括：

对所述叠前地震数据进行动校正和水平叠加，获得所述叠加剖面。

5.根据权利要求4所述的利用叠前地震道集计算地层品质因数的方法，其特征在于，根据所述的反射波振幅谱，利用所述叠加速度、反射层时间以及滤波器振幅谱，计算得到层对数衰减量δ_n，包括：

对于叠前共中心点道集，所述反射波振幅谱为：

对所述反射波振幅谱两边去自然对数运算，并采用最小二乘法计算得到等效对数衰减量为：

δv,n=-Σi=1MΣj=1N(Mti-Σk=1Mtk)(Nfj-Σk=1Nfk)wij[MΣk=1Mtk2-(Σk=1Mtk)2][NΣk=1Nfk2-(Σk=1Nfk)2];]]>

根据所述等效对数衰减量，利用公式计算得到层对数衰减量δ_n；

其中，M为所述叠前共中心点道集的道数，各道上来自第n个反射界面的反射波时间为t_i，i=1,2,...,M，v_r,n为第1层到第n层的叠加速度；δ_v,n为描述第1层到第n层的等效对数衰减量；t_0,n为来自第n个反射界面的反射层时间，选择反射波振幅谱有效频带范围内的N个频率成分f_j，j=1,2,...,N用于计算，各道反射波振幅谱为W_ij=W(t_i,f_j)，i=1,2,...,M；j=1,2,...,N，各道与频率无关的滤波器振幅谱表示为A_i，i=1,2,...,M，与时间无关的滤波器振幅谱表示为B_j，j=1,2,...,N。