[发明专利]一种用于阻挡层平坦化的化学机械抛光液及其使用方法在审

专利信息
申请号: 201310728655.6 申请日: 2013-12-25
公开(公告)号: CN104745089A 公开(公告)日: 2015-07-01
发明(设计)人: 姚颖;荆建芬;邱腾飞;蔡鑫元;陈宝明 申请(专利权)人: 安集微电子(上海)有限公司
主分类号: C09G1/02 分类号: C09G1/02;C23F3/04;C23F3/06
代理公司: 上海翰鸿律师事务所 31246 代理人: 李佳铭
地址: 201203 上海市浦东新区张*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 阻挡 平坦 化学 机械抛光 及其 使用方法
【权利要求书】:

1.一种用于阻挡层平坦化的化学机械抛光液,其特征在于,所述抛光液包含研磨颗粒、唑类化合物、络合剂、聚丙烯酸类化合物和/或其盐、聚乙烯吡咯烷酮,氧化剂和水。

2.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的研磨颗粒为二氧化硅、三氧化二铝、二氧化铈、掺杂铝的二氧化硅和/或聚合物颗粒。

3.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的研磨颗粒的浓度为质量百分比1~20%。

4.如权利要求4所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的研磨颗粒的浓度为质量百分比2~10%。

5.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的研磨颗粒的粒径为20~150nm。

6.如权利要求5所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的研磨颗粒的粒径为30~120nm。

7.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的唑类化合物选自下列中的一种或多种:苯并三氮唑、甲基苯并三氮唑,5-苯基四氮唑,巯基苯基四氮唑,苯并咪唑,萘并三唑和/或2-巯基-苯并噻唑。

8.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的唑类化合物的浓度为质量百分比0.001~2%。

9.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的唑类化合物的浓度为质量百分比0.01~1%。

10.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的络合剂为有机酸、有机磷酸和/或氨羧化合物中的一种或多种。

11.如权利要求10所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的络合剂选自下列中的一种或多种乙酸、丙酸、草酸、丙二酸、丁二酸、柠檬酸、2-膦酸丁烷-1,2,4-三羧酸、氨基三甲叉膦酸、羟基乙叉二膦酸、乙二胺四甲叉膦酸、和/或甘氨酸。

12.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的络合剂的浓度为质量百分比0.001~2%。

13.如权利要求12所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的络合剂的浓度为质量百分比0.01~1%。

14.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述聚丙烯酸类化合物为聚丙烯酸,所述的盐为铵盐、钾盐或钠盐。

15.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚丙烯酸类化合物和/或其盐的分子量为1000-20000。

16.如权利要求15所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚丙烯酸类化合物和/或其盐的分子量为2000-10000。

17.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚丙烯酸类化合物和/或其盐的浓度为质量百分比0.001~1%。

18.如权利要求17所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚丙烯酸类化合物和/或其盐的浓度为质量百分比0.01~0.5%。

19.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚乙烯吡咯烷酮的分子量为1000~1000000。

20.如权利要求19所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚乙烯吡咯烷酮的分子量为1000~500000。

21.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚乙烯吡咯烷酮的浓度为质量百分比0.001~2.0%。

22.如权利要求21所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚乙烯吡咯烷酮的浓度为质量百分比0.01~1.0%。

23.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的氧化剂选自下列中的一种或多种:过氧化氢、过氧乙酸,过硫酸钾和/或过硫酸铵。

24.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的氧化剂的浓度为质量百分比0.01~5%。

25.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的氧化剂的浓度为质量百分比0.1~2%。

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