[发明专利]一种用于阻挡层平坦化的化学机械抛光液及其使用方法在审
申请号: | 201310728655.6 | 申请日: | 2013-12-25 |
公开(公告)号: | CN104745089A | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 姚颖;荆建芬;邱腾飞;蔡鑫元;陈宝明 | 申请(专利权)人: | 安集微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02;C23F3/04;C23F3/06 |
代理公司: | 上海翰鸿律师事务所 31246 | 代理人: | 李佳铭 |
地址: | 201203 上海市浦东新区张*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 阻挡 平坦 化学 机械抛光 及其 使用方法 | ||
1.一种用于阻挡层平坦化的化学机械抛光液,其特征在于,所述抛光液包含研磨颗粒、唑类化合物、络合剂、聚丙烯酸类化合物和/或其盐、聚乙烯吡咯烷酮,氧化剂和水。
2.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的研磨颗粒为二氧化硅、三氧化二铝、二氧化铈、掺杂铝的二氧化硅和/或聚合物颗粒。
3.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的研磨颗粒的浓度为质量百分比1~20%。
4.如权利要求4所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的研磨颗粒的浓度为质量百分比2~10%。
5.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的研磨颗粒的粒径为20~150nm。
6.如权利要求5所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的研磨颗粒的粒径为30~120nm。
7.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的唑类化合物选自下列中的一种或多种:苯并三氮唑、甲基苯并三氮唑,5-苯基四氮唑,巯基苯基四氮唑,苯并咪唑,萘并三唑和/或2-巯基-苯并噻唑。
8.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的唑类化合物的浓度为质量百分比0.001~2%。
9.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的唑类化合物的浓度为质量百分比0.01~1%。
10.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的络合剂为有机酸、有机磷酸和/或氨羧化合物中的一种或多种。
11.如权利要求10所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的络合剂选自下列中的一种或多种乙酸、丙酸、草酸、丙二酸、丁二酸、柠檬酸、2-膦酸丁烷-1,2,4-三羧酸、氨基三甲叉膦酸、羟基乙叉二膦酸、乙二胺四甲叉膦酸、和/或甘氨酸。
12.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的络合剂的浓度为质量百分比0.001~2%。
13.如权利要求12所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的络合剂的浓度为质量百分比0.01~1%。
14.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述聚丙烯酸类化合物为聚丙烯酸,所述的盐为铵盐、钾盐或钠盐。
15.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚丙烯酸类化合物和/或其盐的分子量为1000-20000。
16.如权利要求15所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚丙烯酸类化合物和/或其盐的分子量为2000-10000。
17.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚丙烯酸类化合物和/或其盐的浓度为质量百分比0.001~1%。
18.如权利要求17所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚丙烯酸类化合物和/或其盐的浓度为质量百分比0.01~0.5%。
19.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚乙烯吡咯烷酮的分子量为1000~1000000。
20.如权利要求19所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚乙烯吡咯烷酮的分子量为1000~500000。
21.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚乙烯吡咯烷酮的浓度为质量百分比0.001~2.0%。
22.如权利要求21所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的聚乙烯吡咯烷酮的浓度为质量百分比0.01~1.0%。
23.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的氧化剂选自下列中的一种或多种:过氧化氢、过氧乙酸,过硫酸钾和/或过硫酸铵。
24.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的氧化剂的浓度为质量百分比0.01~5%。
25.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述的氧化剂的浓度为质量百分比0.1~2%。
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