[发明专利]一种优化显卡性能的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201310727197.4 申请日: 2013-12-25
公开(公告)号: CN103744634A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 黄银洲;曾晖 申请(专利权)人: 深圳宝龙达信息技术股份有限公司
主分类号: G06F3/14 分类号: G06F3/14;G06F11/26
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 郭伟刚
地址: 518057 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 优化 显卡 性能 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及计算机显卡,更具体地说,涉及一种优化显卡性能的方法和系统。

背景技术

显卡作为计算机的重要组成部件,其性能的好坏直接影响计算机的性能。目前,计算机显卡在开发阶段通常是通过显卡开发工程师根据经验手动调整显卡的性能参数,这种调整显卡性能的方式浪费时间、工作效率低下,并且根据开发工程师经验的高低,显卡性能的调整结果也会不相同,这样将无法保证每块显卡的性能和稳定性,大大降低用户购买显卡的实际性价比。

发明内容

本发明针对目前在调整计算机显卡的参数时,通过显卡工程师根据其经验手动调整显卡的性能参数的方式,存在浪费时间、工作效率低下并且无法保证每块显卡的性能和稳定性的缺陷,提供一种优化显卡的方法和系统,能够实现显卡性能参数的自动优化,提高工作效率,并且保证显卡的性能和稳定性。

本发明解决其技术问题采用的技术方案是:提供一种优化显卡性能的方法,包括以下步骤:

S1、在一定的外界环境参数下对多个显卡的性能进行测试,以获得该外界环境参数下的多组测试数据,所述外界环境参数包括温度和压强;

S2、对该外界环境参数下多组测试数据进行优化处理;

S3、基于优化处理的结果确定该外界环境参数下显卡的最佳性能参数;

S4、将所述最佳性能参数更新到各显卡的基本输入输出系统中。

优选地,步骤S3包括以下子步骤:

S31、判断优化处理的结果是否属于最佳参数范围;

S32、若属于最佳参数范围,则优化处理的结果为该外界环境参数下显卡的最佳性能参数;

S33、若不属于最佳参数范围,则在相同的外界环境参数下执行步骤S1;

优选地,在子步骤S33中,若不属于最佳参数范围,改变显存和图形处理器之间通信的参数值,在相同的外界环境参数下执行步骤S1。

优选地,本发明的优化显卡性能的方法还包括以下步骤:

S5、在步骤S3和步骤S4之间,改变外界环境参数后执行步骤S1至步骤S3,以获得多组外界环境参数下显卡的最佳性能参数;

S6、将多组外界环境参数下显卡的最佳性能参数进行加权求平均,以获得显卡最终的最佳性能参数。

优选地,步骤S6包括以下子步骤:

S61、根据显卡的实际应用环境确定各组外界环境参数下显卡的最佳性能参数的加权值;

S62、根据各组外界环境参数下显卡的最佳性能参数的加权值,对多组外界环境参数下显卡的最佳性能参数进行加权求平均,以获得显卡最终的最佳性能参数。

优选地,本发明的优化显卡性能的方法还包括以下步骤:

S7、验证各显卡在最佳性能参数下的性能。

提供一种优化显卡性能的系统,包括路由器、控制中心平台和多个显卡测试平台,通过所述路由器将所述多个显卡测试平台与所述控制中心平台连接成局域网;所述多个显卡测试平台中的每一个用于在接收到性能测试指令时在一定的外界环境参数下对显卡进行性能测试,并将获得的性能测试数据发送到所述控制中心平台,所述外界环境参数包括温度和压强;所述控制中心平台用于发送所述性能测试指令,还用于对接收到的一定外界环境参数下的多组测试数据进行优化处理,并基于优化处理的结果确定该外界环境参数下显卡的最佳性能参数,还用于将显卡的最佳性能参数更新到所述多个显卡测试平台所测试的各显卡的基本输入输出系统中。

优选地,所述控制中心平台包括:

测试指令发送单元,用于向接入局域网的多个显卡测试平台发送性能测试指令,所述性能测试指令包括显存和图形处理器之间通信的参数值;

第一均值计算单元,用于计算接收到的一定外界环境参数下的多组测试数据的平均值;

判断单元,用于判断所述第一均值计算单元计算出的平均值是否属于最佳参数范围,若是则判断该计算出的平均值为该外界环境参数下显卡的最佳性能参数,若否则发送修改指令到所述测试指令发送单元,以使所述测试指令发送单元修改性能测试指令中的显存和图形处理器之间通信的参数值,并向接入局域网的多个显卡测试平台发送修改后的性能测试指令;

更新单元,用于发送更新指令到接入局域网的多个显卡测试平台,所述更新指令包括显卡的最佳性能参数,以使所述多个显卡测试平台将显卡的最佳性能参数更新到显卡的基本输入输出系统中。

优选地,本发明的优化显卡性能的系统还包括:

存储单元,用于对应存储显卡的最佳性能参数和外界环境参数;

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