[发明专利]一种阵列基板组件及其测量方法和显示装置

说明书

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体涉及一种阵列基板组件及其测量方法和显示装置。

背景技术

在薄膜晶体管液晶显示器（Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，简称TFT-LCD）中，阵列栅极驱动(Gate Driver IC on Array，GOA)是直接将栅极驱动电路制作在阵列基板上的一种技术。该技术将栅极驱动电路直接制作在阵列基板的显示区周围，可进一步减小显示器件的边框尺寸，而且减少了制作程序，从而提高TFT-LCD面板的集成度，能使显示面板更轻薄，进而也降低了产品成本。

显示面板的双边驱动技术是在阵列基板上制作两组栅极驱动电路。双边驱动技术能够改善单边驱动技术存在的对薄膜晶体管充电不良的问题，从而提升显示面板的显示品质。

图1是现有技术中采用双边驱动和阵列栅极驱动技术的阵列基板的结构示意图，第一信号线4，也即栅线，其两端同时连接到阵列栅极驱动电路单元1′上。同时，为了配合Dummy GOA（冗余阵列栅极驱动）单元的设计，显示面板的上下左右设计有Dummy Pixel（冗余像素）以及冗余数据线5′和冗余栅线4′。但为了防止其对画面品质造成影响，Dummy Pixel上不设计TFT。

发明人发现现有技术中至少存在如下问题：对于采用双边驱动和阵列栅极驱动技术的显示面板，栅线的两端同时与GOA电路连接，其末端无法和测试点连接，从而无法正常测量栅线的信号延迟情况。同时，设计中由于Dummy Pixel中没有设计TFT，从而冗余栅线的末端即便引出测试点，也无法正常测量栅线的信号延迟情况。

发明内容

本发明所要解决的技术问题包括，针对现有技术中的采用双边阵列栅极驱动的阵列基板的栅线信号延迟无法测量的问题，提供一种阵列基板组件及其测量方法和显示装置，其能够检测上述栅线信号的延迟情况。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板组件的检测方法，所述阵列基板包括多条相互交叉的第一信号线和第二信号线，所述第一信号线的第一端与第一驱动单元连接，第二端与第二驱动单元连接，第二信号线的一端延伸至印刷电路板，并预留为测试点，所述检测方法包括如下步骤：

选取待检测的第一信号线，选取一条第二信号线为第一检测线，第一信号线和第一检测线在第一交叉处相互交叉，并在第一交叉处将第一信号线和第一检测线导通；

应用所述测试点对待检测的第一信号线进行检测。

优选的是，所述导通是在待检测的第一信号线与第一检测线的第一交叉处用激光焊接导通的。

优选的是，所述检测方法在应用所述测试点对待检测的第一信号线进行检测之前，还包括：

将待检测的第一信号线在第一驱动单元与第一交叉处之间或在第二驱动单元与第一交叉处之间进行切断。

优选的是，所述切断为用激光切断。

优选的是，所述第一信号线为栅线，第二信号线为数据线或冗余数据线；

或

第一信号线为数据线，第二信号线为栅线、冗余栅线或公共电极线中的任意一种；

或

第一信号线为公共电极线，第二信号线为数据线或冗余数据线。

本发明的阵列基板组件的测量方法，通过将第一信号线和第第二信号在其交叉处导通，驱动单元给第一信号线输入检测信号，借助第二信号线实现对第一信号线的信号情况的检测。因此，本发明的阵列基板组件的测量方法能够解决上述现有技术中存在的问题，在实现对信号线信号检测的同时，还可以保持阵列基板的正常使用，一定程度上还降低了生产成本。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板组件，包括多条相互交叉的第一信号线和第二信号线，所述第一信号线的第一端与第一驱动单元连接，第二端与第二驱动单元连接，第二信号线的一端延伸至印刷电路板，其中，第二信号线的延伸至印刷电路板的一端预留为测试点。

优选的是，

所述第一信号线为栅线，第二信号线为数据线或冗余数据线；或

第一信号线为数据线，第二信号线为栅线、冗余栅线或公共电极线中的任意一种；

或

第一信号线为公共电极线，第二信号线为数据线或冗余数据线。

本发明的阵列基板组件的第二信号线的延伸至印刷电路板的一端预留有测试点，因此更容易检测阵列基板上的第一信号线的信号情况，且可以保持阵列基板的完好，一定程度上降低了生产成本。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示装置，包括上述阵列基板组件。