[发明专利]一种激光测量最佳测量位置定位系统有效
申请号: | 201310717890.3 | 申请日: | 2013-12-23 |
公开(公告)号: | CN103673999A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 杨凯;张渝;高晓蓉;彭朝勇;赵波;王黎;赵全轲;王泽勇;彭建平 | 申请(专利权)人: | 西南交通大学;成都铁安科技有限责任公司 |
主分类号: | G01C15/02 | 分类号: | G01C15/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王学强;魏晓波 |
地址: | 610031*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 测量 最佳 位置 定位 系统 | ||
1.一种激光测量最佳测量位置定位系统,包括激光设备、CCD摄像机和中央处理系统,其特征在于,所述的激光设备发射出三条有效测量激光线,有效测量激光线为宽度很窄的光带,在被测物表面形成平行的代表被测物轮廓尺寸的光截外形曲线,正中心的激光线垂直于激光设备射出,两侧的激光线与正中央的激光线的夹角相等,由CCD摄像机获取光截外形曲线,然后中央处理系统对获得的光截外形曲线计算光截外形曲线的间距,分析激光设备是否正对被测物,得出结果后提示操作人员调整激光设备正对被测物。
2.根据权利要求1所述的激光测量最佳测量位置定位系统,其特征在于,所述的激光设备还发射出定位激光线,定位激光线的数量为零条及零以上的偶数条,均匀对称分布在有效测量激光的两侧。
3.根据权利要求2所述的激光测量最佳测量位置定位系统,其特征在于,所述的定位激光线在激光设备正照射在一平面上时,定位激光线照射形成的光截外形曲线为等间距。
4.根据权利要求1所述的激光测量最佳测量位置定位系统,其特征在于,所述的中央处理系统中建立关键位置的理想轮廓标准曲线,中央处理系统将实测时有效测量激光线所形成的光截外形曲线与理想轮廓标准曲线进行对比,分析当前激光设备是否存在旋转的偏差,提示操作人员旋转激光设备调整到最佳入射方向。
5.根据权利要求4所述的激光测量最佳测量位置定位系统,其特征在于,所述的中央处理系统上还连接有智能语音提示系统,中央处理系统分析计算当前测量位置是否偏移后将结果传送给智能语音提示系统实现语音提示:太远/太近/左转/右转。
6.根据权利要求4所述的激光测量最佳测量位置定位系统,其特征在于,所述的中央处理系统上还连接有图像显示系统,中央处理系统分析计算当前测量位置是否偏移后将结果传送给图像显示系统,图像显示系统模拟显示出的最佳测量位置和当前测量位置的示意图。
7.根据权利要求4所述的激光测量最佳测量位置定位系统,其特征在于,激光测量最佳测量位置定位系统的定位检测流程为,激光设备发出线激光入射到被测物表面,CCD摄像机获取轮廓的光截外形曲线,中央处理系统进行图像校正,然后分析计算当前检测位置是否为最佳检测位置,如果不是则通过智能语音提示系统和图像显示系统提示操作人员具体的激光设备的调整方向,待操作人员调整激光设备位置后重复上述流程,直至达到最佳检测位置,最后输出被测物的相关结果数据。
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