[发明专利]摄像设备及其控制方法有效
| 申请号: | 201310717312.X | 申请日: | 2013-12-23 |
| 公开(公告)号: | CN103888667A | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
| 发明(设计)人: | 儿玉泰伸 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | H04N5/232 | 分类号: | H04N5/232;H04N5/235 |
| 代理公司: | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人: | 魏启学 |
| 地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 摄像 设备 及其 控制 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种摄像设备及其控制方法,尤其涉及用于以不同曝光拍摄多个图像的拍摄技术。
背景技术
已知以不同于正确曝光的不同曝光拍摄多个图像的自动包围曝光功能已有一段时间。这类功能的一个优点是,还拍摄曝光不足或者过曝光的图像,因此,即使在拍摄场景中存在高亮细节损失或者阴影细节损失,仍然可以获得抑制了这类高亮细节损失或阴影细节损失的图像。此外,还已知用于自动计算曝光校正量、并且以校正前曝光值和校正后曝光值拍摄图像以降低拍摄场景中的高亮细节损失或阴影细节损失的方法。
对于这类功能,例如,日本特开2006-157348号说明了一种方法,该方法计算图像的亮度直方图,判断是否存在过曝光或曝光不足的区域,基于该判断的结果计算曝光校正值,并且重新拍摄图像。日本特开2006-157348号还说明了一种方法,该方法设置多个候选曝光校正值,并且从以各曝光校正值所拍摄的图像中选择具有最佳曝光校正值的图像。
然而,对于日本特开2006-157348号所述的技术,需要用户从许多候选曝光校正值中选择最佳曝光校正值,这可能导致拍摄时的时滞增大和所使用的存储器的量增大等。
发明内容
考虑到上述问题做出本发明,并且本发明实现一种能够在以不同曝光拍摄多个图像时可以计算针对拍摄场景的最佳曝光值的技术。
为了解决上述问题,本发明提供一种摄像设备,其包括测光单元,用于检测被摄体的亮度;判断单元,用于基于第一曝光时的测光的结果,判断是否进行以不同曝光拍摄多个图像的自动包围曝光;计算单元,用于计算曝光改变量,该曝光改变量用于改变所述第一曝光以产生所述不同曝光;校正单元,用于基于不同于所述第一曝光的第二曝光时的测光的结果,校正所计算出的曝光改变量;以及拍摄控制单元,用于利用所述计算单元所计算出的曝光改变量或者所述校正单元校正后的曝光改变量来拍摄图像。
为了解决上述问题,本发明提供一种摄像设备的控制方法,所述摄像设备拍摄被摄体的图像,所述控制方法包括以下步骤:测光步骤,用于检测所述被摄体的亮度;判断步骤,用于基于第一曝光时的测光的结果,判断是否进行以不同曝光拍摄多个图像的自动包围曝光;计算步骤,用于计算曝光改变量,该曝光改变量用于改变所述第一曝光以产生所述不同曝光;校正步骤,用于基于不同于所述第一曝光的第二曝光时的测光的结果,校正所计算出的曝光改变量;以及拍摄控制步骤,用于利用在所述计算步骤中计算出的曝光改变量或者在所述校正步骤中校正后的曝光改变量来拍摄图像。
根据本发明,在以不同曝光拍摄多个图像时,可以针对拍摄场景计算最佳曝光值。
通过以下(参考附图)对典型实施例的说明,本发明的其他特征将显而易见。
附图说明
图1是示出根据本发明实施例的摄像设备的结构的框图。
图2是示出根据实施例的摄像设备所进行的拍摄操作的流程图。
图3是示出图2所示的自动包围曝光执行判断处理和校正值计算判断处理的流程图。
图4A~4E是示出图2所示的自动包围曝光执行判断处理中的曝光改变量计算方法的图。
图5是示出图2所示的曝光改变量校正处理的流程图。
图6A~6D是示出图2所示的曝光改变量校正处理中的校正值计算方法的图。
具体实施方式
下面详细说明本发明的实施例。下面的实施例仅是用于实现本发明的例子。可以根据各种条件和应用本发明的设备的结构来适当修改或改变这些实施例。本发明不应局限于下面的实施例。另外,可以适当组合稍后所述的实施例的一部分。
下面说明在诸如数字照相机等的、具有用于以不同于正确曝光的曝光拍摄多个图像的自动包围曝光功能的摄像设备中应用本发明的实施例。
设备结构
参考图1概要说明根据本发明实施例的摄像设备100的结构和功能。
在图1中,拍摄镜头101包括变焦机构。光圈/快门102基于来自AE(自动曝光)处理单元103的操作指示,控制入射至图像传感器106的与光学图像相对应的被摄体的反射光量和电荷累积时间。AE处理单元103控制光圈/快门102的操作,并且还控制A/D转换器107的操作。调焦透镜104根据来自AF(自动调焦)处理单元105的控制信号,在图像传感器106的光接收面上清晰地形成光学图像。
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