[发明专利]一种获取消除标量耦合调制的单体素一维定域谱的方法有效
| 申请号: | 201310716594.1 | 申请日: | 2013-12-23 |
| 公开(公告)号: | CN103645453A | 公开(公告)日: | 2014-03-19 |
| 发明(设计)人: | 林雁勤;林良杰;韦芝良;陈忠 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
| 主分类号: | G01R33/465 | 分类号: | G01R33/465 |
| 代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人: | 张松亭 |
| 地址: | 361000 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 获取 消除 标量 耦合 调制 单体 素一维定域谱 方法 | ||
1.一种获取消除标量耦合调制的单体素一维定域谱的方法,主要步骤为:分别测量样品的90度和180度射频脉冲宽度;使用所述测得的90度射频脉冲作为第一90度射频脉冲将磁化矢量由Z方向打到XY平面;重复执行硬射频脉冲标量耦合重聚模块NE次,NE由所需的回波时间TE决定;执行具有体素选择功能的软射频脉冲标量耦合模块一次;其特征在于,所述硬脉冲标量耦合重聚模块是在两个硬脉冲自旋回波模块中加入一个同方向的90度硬射频脉冲而构成;所述软脉冲标量耦合重聚模块是在两个软脉冲自旋回波模块中加入一个同方向的90度软射频脉冲而构成。
2.根据权利要求1所述的一种获取消除标量耦合调制的单体素一维定域谱的方法,其特征在于,一个所述标量耦合重聚模块中脉冲间的时间间隔τ是相同的。
3.根据权利要求2所述的一种获取消除标量耦合调制的单体素一维定域谱的方法,其特征在于,所述脉冲间的时间间隔τ根据所测样品所包含的耦合体系情况设定,使得脉冲间的时间间隔τ与所测样品所包含的标量耦合常数J的乘积远小于1。
4.根据权利要求1所述的一种获取消除标量耦合调制的单体素一维定域谱的方法,其特征在于,所述第一90度射频脉冲为90度硬射频脉冲。
5.根据权利要求1所述的一种获取消除标量耦合调制的单体素一维定域谱的方法,其特征在于,所述第一90度射频脉冲和所述硬脉冲标量耦合重聚模块的相位相差90度。
6.根据权利要求1所述的一种获取消除标量耦合调制的单体素一维定域谱的方法,其特征在于,所述硬脉冲标量耦合重聚模块与所述软脉冲标量耦合重聚模块相位相同。
7.根据权利要求1所述的一种获取消除标量耦合调制的单体素一维定域谱的方法,其特征在于,所述体素选择功能是由软射频脉冲标量耦合重聚模块结合xyz三个方向上的选层梯度和破坏梯度共同作用完成的。
8.根据权利要求6所述的一种获取消除标量耦合调制的单体素一维定域谱的方法,其特征在于,所述xyz三个方向上的选层梯度的强度取决于所选体素的大小和所述软射频脉冲的激发带宽,可由磁共振仪器自动计算完成。
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