[发明专利]一种测量电光相位调制器半波电压的装置和方法

权利要求书

1.一种测量电光相位调制器半波电压的装置，其特征在于：包括依次连接的可调谐激光器（1）、第一光耦合器（2）、偏振控制器（3）、待测电光相位调制器（4）、第二光耦合器（7）、光电探测器（8）、频谱分析仪（9），还包括微波信号源（5）和声光移频器（6），所述微波信号源（5）与待测电光相位调制器（4）连接，所述声光移频器（6）一端与偏振控制器（3）共同连接到第一光耦合器（2），另一端与待测电光相位调制器（4）共同连接到第二光耦合器（7）。

2.根据权利要求1所述的一种测量电光相位调制器半波电压的装置，其特征在于：所述可调谐激光器（1）为波长可调谐的半导体激光器或光纤激光器。

3.一种采用了上述装置的测量电光相位调制器半波电压的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

 S1：所述可调谐激光器（1）输出光载波通过第一光耦合器（2）分成两束，一束光载波经偏振控制器（3）输入到待测电光相位调制器（4）中并被由微波信号源（5）输出的正弦微波信号调制，另一束光载波经过声光移频器（6）进行移频处理，这两束经过处理的光载波通过第二光耦合器（7）耦合之后再进入光电探测器（8），光电探测器（8）输出电信号给频谱分析仪（9）进行分析、测量；

S2：调节可调谐激光器（1）输出的光载波频率为ω₀，声光移频器（6）的移频频率为ω_f，微波信号源（5）的调制频率为ω_m，在频谱分析仪（9）上，观测由可调谐激光器（1）的中心载波以及其k(k=±1, ±2, ±3,…)阶调制边带来分别与声光移频器（6）输出频率为ω₀±ω_f移频光载波进行拍频的拍频信号，拍频信号的频率为ω_f、kω_m±ω_f；

S3：设定一个k值，记录频谱分析仪（9）中频率为kω_m+ω_f的信号幅度A_k和频率为ω_f的信号幅度A_f，引入频率为kω_m+ω_f的响应度R_k和频率为ω_f的响应度R_f，通过求解方程：

得出待测电光相位调制器（4）的调制系数m； 

S4：将微波信号源（5）与频谱分析仪（9）电路连接，在频谱分析仪（9）上观测并记录微波信号源（5）输出的频率为ω_m的调制信号的信号幅度V_m,并利用公式：

求出待测电光相位调制器（4）的半波电压V_π(ω_m)；

S5：改变可调谐激光器（1）的光载波频率ω₀或微波信号源（5）的调制频率ω_m，依次重复执行步骤S2、S3、S4，得到待测电光相位调制器（4）对应于光载波频率ω₀或调制频率ω_m的半波电压。