[发明专利]自发光显示装置及其控制方法和计算机程序无效
申请号: | 201310706412.2 | 申请日: | 2013-12-19 |
公开(公告)号: | CN103903563A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | 井上泰夫;船津阳平;内田高史 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 陈桂香;褚海英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 显示装置 及其 控制 方法 计算机 程序 | ||
相关申请的交叉参考
本申请要求2012年12月26日提交的日本优先权专利申请JP2012-283322的权益,因此将该日本优先权申请的全部内容以引用的方式并入本文。
技术领域
本发明涉及自发光显示装置及其控制方法和计算机程序。
背景技术
使用液晶的液晶显示装置和使用等离子体的等离子体显示装置已经被应用为具有平面的薄型显示装置。
液晶显示装置是包括背光源的显示装置,其通过如下方式来显示图像:施加电压以改变液晶分子的排列,并且允许来自背光源的光透过以及遮蔽该光。此外,等离子体显示装置是通过如下方式来显示图像的显示装置:向封入在基板内的气体施加电压以具有等离子体状态,然后通过使利用当从等离子体状态返回原始状态时发生的能量而产生的紫外光照射在荧光体上,从而发出可见光。
另一方面,近年来,使用有机EL(电致发光)元件的自发光型显示装置的发展已经取得进步,当施加了电压时,该有机EL元件通过元件自身而发光。当通过电极接收了能量时,有机EL元件从基态改变至激发态,且当从激发态返回基态时,有机EL元件释放能量差。有机EL显示装置是通过使用这些有机EL元件所释放的光而显示图像的显示装置。
自发光型显示装置不同于液晶显示装置的是:在液晶显示装置中,背光源是必需的;并且因为自发光型显示装置为了使元件自身发光并不需要具有背光源,所以当与液晶显示装置的构造比较时,自发光型显示装置能够具有薄构造。此外,因为当与液晶显示装置的移动图像特性、视角特性和颜色再现特性等比较时,自发光型显示装置的上述这些特性更优异,因此使用有机EL元件的自发光型显示装置作为下一代具有平面的薄型显示装置已受到关注。
由于自发光型显示装置通过元件自身而发光,所以当持续发光时会出现发光元件的劣化。另外,对于三原色中的红色、绿色和蓝色每一者而言,发光元件具有不同的劣化特性。因此,红色、绿色和蓝色三种颜色的辐射平衡将会由于发光元件的劣化而崩溃,结果,与所期望的图像色温(color temperature)不同的图像色温将会显示于屏幕上。这样的现象通常称为图像暂留(image persistence;烧屏)现象。于是,JP2008-143130A中公开了这样的技术:其从视频信号中计算出发光时间,从所计算出的发光时间获取发光元件的亮度,然后基于所获取的亮度的信息来执行图像暂留的校正。
在JP2008-143130A中所公开的技术如上所述从视频信号中计算出发光时间,从所计算出的发光时间获取发光元件的亮度,然后对图像暂留进行校正时,JP2008-143130A中所公开的技术是通过使用某些特定亮度下的劣化特性来执行图像暂留的校正。然而,由于使用有机EL元件的自发光型显示装置具有随着亮度而不同的劣化特性,所以寻求一种能够获得更精确的劣化量并且能够根据该劣化量来校正图像暂留的自发光型显示装置。
发明内容
鉴于上述问题,本发明提供了新的、改进的自发光显示装置及其控制方法和计算机程序,它们能够获得更精确的劣化量,且能够根据所获得的劣化量来校正亮度。
本发明的实施例提供了一种自发光显示装置,其包括:劣化量获取部,它被构造成获取以矩阵形状布置于屏幕上的多个像素各者的累积劣化量,各所述像素分别包括根据电流量进行自发光的发光元件;劣化量计算部,它被构造成通过使用根据所提供的视频信号的亮度而确定的劣化特性,来计算出当基于所述视频信号在各所述像素中显示图像时的劣化量;以及累积信息更新部,它被构造成在由所述劣化量计算部计算出的所述劣化量中反映由所述劣化量获取部获取的所述累积劣化量,并且更新所反映的累积劣化量作为新的累积劣化量。
本发明的实施例提供了一种自发光显示装置控制方法,所述控制方法包括:劣化量获取步骤,用于获取以矩阵形状布置于屏幕上的多个像素各者的累积劣化量,各所述像素分别包括根据电流量进行自发光的发光元件;劣化量计算步骤,用于通过使用根据所提供的视频信号的亮度而确定的劣化特性,计算出当基于所述视频信号而显示图像时的劣化量;以及累积信息更新步骤,用于在由所述劣化量计算步骤计算出的所述劣化量中反映由所述劣化量获取步骤获取的所述累积劣化量,并且更新所反映的累积劣化量作为新的累积劣化量。
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