[发明专利]一种砝码交换称量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201310699034.X 申请日: 2013-12-18
公开(公告)号: CN103697975A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 任孝平;王健;钟瑞麟;姚弘;丁京鞍;蔡常青 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01G1/00 分类号: G01G1/00
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 郭韫
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 砝码 交换 称量 装置 及其 测量方法
【权利要求书】:

1.一种砝码交换称量装置,其特征在于:所述装置包括自动质量测量装置、砝码工位、机器手臂和砝码托盘;

所述砝码托盘包括底部圆盘(1)、侧挡板(2)和中挡板(3);

所述侧挡板(2)设置在底部圆盘(1)的最外缘圆周上,形成一个圆柱面,其周长与底部圆盘(1)的周长相同;

所述中挡板(3)位于底部圆盘(1)的中心线位置上,将底部圆盘(1)分隔成左右两个区域;

在所述中挡板(3)上设有凹槽(4),所述凹槽(4)将中挡板(3)分隔成两块不同长度的挡板。

2.根据权利要求1所述的砝码交换称量装置,其特征在于:所述侧挡板(2)和中档板(3)均垂直于底部圆盘(1)。

3.根据权利要求2所述的砝码交换称量装置,其特征在于:在所述底部圆盘(1)的下端面的圆周上设有限位槽(5),所述限位槽(5)为斜边设计。

4.根据权利要求3所述的砝码交换称量装置,其特征在于:所述机器手臂包括至少两个臂端,在每个臂端上安装有叉齿,在所述叉齿上设有斜边,该斜边与底部圆盘(1)的限位槽(5)配合,所述底部圆盘(1)的限位槽(5)能够嵌在该斜边中。

5.根据权利要求4所述的砝码交换称量装置,其特征在于:所述的自动质量测量装置为自动质量比较仪。

6.根据权利要求5所述的砝码交换称量装置,其特征在于:所述砝码工位包括砝码存储工位、砝码测量工位和砝码交换工位;所述砝码存储工位用来存放所有待测量砝码和标准砝码;所述砝码测量工位位于自动质量比较仪的内部,用于完成砝码的比较测量;所述砝码交换工位位于不影响机器手臂运动的其他区域,用于协助完成砝码从机器手臂的一个臂端转移至另一臂端。

7.根据权利要求6所述的砝码交换称量装置,其特征在于:所述砝码存储工位、砝码测量工位和砝码交换工位上均设有工位限位槽,所述工位限位槽为斜边设计,与所述底部圆盘(1)的限位槽(5)配合,所述底部圆盘(1)的限位槽(5)能够嵌在所述工位限位槽中。

8.根据权利要求7所述的砝码交换称量装置,其特征在于:所述底部圆盘(1)的直径等于砝码存储工位的圆盘的直径;

将底部圆盘(1)的左右两个区域编号为A-n和B-n;在所述底部圆盘(1)的底部刻有相应的区域编号。

9.根据权利要求8所述的砝码交换称量装置,其特征在于:所述砝码托盘由弱磁性金属或无磁性金属制成。

10.一种砝码交换称量的测量方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤:

(1).确定砝码测量模式,若测量模式为一个标准砝码与一个待测砝码的质量测量,则转到步骤(2);若测量模式为一个标准砝码与两个待测砝码组合测量,则转到步骤(3);若测量模式为一个标准砝码与三个待测砝码组合测量,则转到步骤(4);

(2).取两个砝码托盘,分别为第一托盘和第二托盘;取标准砝码r和待测砝码t;将标准砝码r对称放置在第一托盘中的凹槽处,将待测砝码t对称放置在第二托盘中的凹槽处,利用自动质量比较仪测得质量差值Δm1;然后,将标准砝码r对称放置在第二托盘中的凹槽处,将待测砝码t对称放置在第一托盘中的凹槽处,利用自动质量比较仪测得质量差值Δm2;则标准砝码r与待测砝码t之间的质量差值为:然后转到步骤(5);

(3).取两个砝码托盘,分别为第三托盘和第四托盘,取标准砝码r和两个同标称值的待测砝码t1和t2;将标准砝码r对称放置在第三托盘中的凹槽处,将待测砝码t1放置在第四托盘的A-4区域,将待测砝码t2放置在第四托盘的B-4区域,两个待测砝码对称放置;利用自动质量比较仪测得质量差值Δm3;然后,将标准砝码r对称放置在第四托盘中的凹槽处,将待测砝码t1放置在第三托盘的A-3区域,将待测砝码t2放置在第三托盘的B-3区域,两个待测砝码对称放置;利用自动质量比较仪测得质量差值Δm4;则标准砝码r与待测砝码t1和t2之间的质量差值为:然后转到步骤(5);

(4).取两个砝码托盘,分别为第五托盘和第六托盘,取标准砝码r,两个同标称值待测砝码t1和t2,第三个待测砝码t3;将标准砝码r对称放置在第五托盘中的凹槽处,将待测砝码t1放置在第六托盘的A-6区域,将待测砝码t2放在第六托盘的B-6区域,待测砝码t1和t2对称放置;将待测砝码t3对称放置在第六托盘中的凹槽处,利用自动质量比较仪测得质量差值Δm5;然后,将标准砝码r对称放置在第六托盘中的凹槽处,将待测砝码t1放置在第五托盘的A-5区域,将待测砝码t2放置在第五托盘的B-5区域,待测砝码t1和t2对称放置;将待测砝码t3对称放置在第五托盘中的凹槽处,利用自动质量比较仪测得质量差值Δm6;则标准砝码r与待测砝码t1,t2和t3之间的质量差值为

(5)结束测量。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310699034.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top