[发明专利]一种支持全卡射频测试的自测装置及其使用方法有效

专利信息
申请号: 201310697429.6 申请日: 2013-12-18
公开(公告)号: CN104730356A 公开(公告)日: 2015-06-24
发明(设计)人: 杨媛;范明浩;王晓晖;豆玉娇;安治龙;毋磊;张靖云;姚金科;韩书光 申请(专利权)人: 北京同方微电子有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 代理人:
地址: 100083 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 支持 射频 测试 自测 装置 及其 使用方法
【权利要求书】:

1.一种支持全卡射频测试的自测装置,它包括依次相互连接的支持自测功能的全卡(50)、测试基台(51)和测试软件平台(52),所述全卡(50)包括天线网络(B)、NFC芯片(A)和CPU智能卡(C),其特征在于,所述NFC芯片(A)包括接收单元(1)、发射单元(3)、天线单元(4)、电源单元(9)、锁相环单元(2)、控制单元(6)、存储单元(7)、接口单元(8)和自动测试辅助单元(5);接收单元(1)、锁相环单元(2)、发射单元(3)和天线单元(4)依次连接形成环路组成射频单元(10),射频单元(10)发送和接收信号符合ISO 14443/FeliCa协议规范;所述控制单元(6)分别与接收单元(1)、锁相环单元(2)、发射单元(3)、自动测试辅助单元(5)、存储单元(7)、接口单元(8)和电源单元(9)相互连接;

所述自动测试辅助单元(5),用于NFC芯片(A)内部节点和芯片功能检测;

所述接口单元(8),用于对NFC芯片(A)进行控制和数据交换;

所述存储单元(7),用于存储NFC芯片(A)的模式配置、流程和状态控制,以及与NFC芯片(A)外部进行交换的各种数据;

所述锁相环单元(2),用于产生片上13.56MHz信号用作发射信号载波,也是NFC芯片(A)工作时钟来源;

所述电源单元(9),为NFC芯片(A)内部电源整形,为接收单元(1)、发射单元(3)、锁相环单元(2)、控制单元(6)、存储单元(7)、接口单元(8)和自动测试辅助单元(5)提供稳定电压源;

所述天线单元(4),采用线圈与调谐电容阵列并联结构;天线单元(4)将外部场信号耦合到线圈上,作为接收单元(1)输入信号;天线单元(4)将发射单元(3)发射信号通过线圈辐射出去,使得外部读卡器能接收到该发射信号;

所述发射单元(3),用于将控制单元(6)送出的数字信号转换为符合ISO 14443/FeliCa协议规范的射频信号,并驱动天线单元(4)将射频信号发射出去;

所述接收单元(1),用于将天线单元(4)感应到的射频信号转换为数字信号并传递给控制单元(6);

所述控制单元(6),用于控制NFC芯片(A)内部状态转换,执行NFC芯片(A)功能相关的各种流程,以及数字信号处理。

2.根据权利要求1所述的支持全卡射频测试的自测装置,其特征在于,所述接口单元(8)采用SPI接口、I2C接口、7816接口或者USB接口。

3.根据权利要求1或2所述的支持全卡射频测试的自测装置,其特征在于,所述自动测试辅助单元(5)包括激励模块(5.1)、信号采集模块(5.2)和其它辅助模块(5.3)。

4.根据权利要求3所述的支持全卡射频测试的自测装置,其特征在于,所述激励模块(5.1)采用锁相环、信号发生器、电压振荡器或者序列发生器;所述信号采集模块(5.2)采用ADC数模转换器或者比较器的完成模拟信号到数字信号转换的单元模块;所述其他辅助模块(5.3)采用buffer缓冲器、amplifer放大器或者逻辑功能模块。

5.如权利要求1所述支持全卡射频测试的自测装置的使用方法,它使用包括支持自动测试功能的全卡(50)、测试基台(51)和测试软件平台(52);其步骤为:

1)测试软件平台(52)通过测试基台(51)的接口将测试指令和数据传递到全卡(50)的接口;

2)全卡(50)从接口获取测试指令,执行测试流程,获取测试结果;

3)全卡(50)将测试结果返回给测试基台(51);

4)测试软件平台(52)从测试测试基台(51)获取测试结果;

5)测试软件平台(52)根据返回的测试结果对当前测试卡片指标分级以及判断卡片测试是否合格。

6.根据权利要求5所述支持全卡射频测试的自测装置的使用方法,其特征在于,所述测试指令包括测试天线离散元件焊接问题、NFC射频功能收发问题以及利用NFC芯片(A)中自动测试辅助单元(5)进行测试的相关功能和指标。

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