[发明专利]一种太阳能电池减反射膜的制备方法有效
申请号: | 201310694002.0 | 申请日: | 2013-12-18 |
公开(公告)号: | CN103633159B | 公开(公告)日: | 2018-02-16 |
发明(设计)人: | 彭国印;毛振乐;张小明;黄治国;王鹏 | 申请(专利权)人: | 上饶光电高科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/18;C23C16/455 |
代理公司: | 江西省专利事务所36100 | 代理人: | 杨志宇 |
地址: | 334100 江西*** | 国省代码: | 江西;36 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 太阳能电池 减反射膜 制备 方法 | ||
1.一种太阳能电池减反射膜的制备方法,其特征为:首先,采用PECVD 镀膜设备,通入NH3 与SiH4流量比为3.2:1 的气体,在等离子体气氛中沉积165 秒,在硅片表面形成一层折射率2.45,膜厚18nm 的氮化硅膜;之后,通入的NH3 与SiH4 流量比为10.47:1,在等离子体气氛中沉积395 秒,在第一层氮化硅膜上继续沉积出第二层折射率为2.07,膜厚44nm 的氮化硅膜;再后,引入另一种气体N0x,替代NH3,通入的N0x 与SiH4 流量比为27:1,在等离子体气氛中沉积145 秒时间,在第二层氮化硅表面沉积出一层折射率1.83,膜厚22nm 的氮化硅与氧化硅混合减反射膜,即最终在硅片表面形成一层总膜厚为84nm,折射率从2.45 逐步过渡到1.83,综合折射率1.99-2.04,介质从氮化硅到氧化硅过渡的太阳能电池减反射膜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上饶光电高科技有限公司,未经上饶光电高科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310694002.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种柔性多层PET结构太阳能板
- 下一篇:一种立体朽木雕刻烙画
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的