[发明专利]用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪有效

专利信息
申请号: 201310687895.6 申请日: 2010-12-31
公开(公告)号: CN103698386A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 李元景;陈志强;张清军;毛绍基;赵自然;刘以农;曹士娉;郑严;常建平;邹湘 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司;清华大学
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张启程
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 痕量 探测仪 装置 以及 具有
【权利要求书】:

1.一种用于痕量探测仪的进样装置,包括:

进样室组件,该进样室组件包括支架和与支架相连接的顶盖;

设置在进样室组件中的用于使样品从进样件脱附的进样室;以及

阀门组件,

所述阀门组件包括封闭部件;以及设置在进样室的内壁上的突缘部分,

所述突缘部分将所述进样室分成第一进样室和第二进样室,第一进样室用于与痕量探测仪流体连通,第二进样室用于使进样件脱附样品,通过该封闭部件与所述突缘部分的接触或分离,使第一进样室和第二进样室流体隔离或连通,

所述进样装置还包括:

驱动件,该驱动件用于移动所述封闭部件,使第一进样室和第二进样室流体连通或隔离,

所述驱动件包括:

移动架,其中移动架与所述封闭部件连接,

其中移动架抬升,使该封闭部件与所述突缘部分分离而使第一进样室和第二进样室流体连通,同时移动架的顶部表面与支架的底部表面接触,使第一进样室和第二进样室与外部隔离。

2.根据权利要求1所述的用于痕量探测仪的进样装置,还包括进样口,所述进样口与所述第二进样室相通。

3.根据权利要求2所述的用于痕量探测仪的进样装置,其中

带有样品的进样试纸从进样口插入到进样装置中,并且进样试纸放置在移动架的顶部表面上。

4.根据权利要求3所述的用于痕量探测仪的进样装置,还包括传感器,处于移动架的底端,在进样试纸放置在移动架的顶部表面上时,传感器发出触发信号。

5.根据权利要求1所述的用于痕量探测仪的进样装置,所述封闭部件包括柱状部分;与柱状部分连接的头部,该头部具有环形凹槽;以及设置在该环形凹槽中的密封圈,该密封圈用于接触所述突缘部分,以使第一进样室和第二进样室隔离。

6.根据权利要求5所述的用于痕量探测仪的进样装置,其中

该移动架具有相对的大体平行的外壁,以及设置在相对的大体平行的外壁上的滑柱,其中移动架与所述封闭部件的柱状部分连接;

所述驱动件包括:驱动架,该驱动架具有凹槽,滑柱可滑动地设置在凹槽中,由此在驱动架移动时,通过滑柱与凹槽的配合,驱动移动架移动,由此移动所述封闭部件。

7.根据权利要求2所述的用于痕量探测仪的进样装置,其中在通过封闭部件与所述突缘部分分离使第一进样室和第二进样室流体连通的同时,第二进样室与所述进样口隔离,由此使第一进样室和第二进样室与外部隔离。

8.一种痕量探测仪,包括:

根据权利要求1所述的进样装置;

迁移管,用于使来自进样装置的样品进行离化带电并迁移;以及

收集离化带电的样品的法拉第盘。

9.根据权利要求8所述的痕量探测仪,其中所述痕量探测仪是迁移率谱仪。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同方威视技术股份有限公司;清华大学,未经同方威视技术股份有限公司;清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310687895.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top