[发明专利]一种直通型高压数据传输接口电路有效

专利信息
申请号: 201310686813.6 申请日: 2013-12-13
公开(公告)号: CN103716032A 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 郝炳贤;赵野;付佳 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H03K19/0175 分类号: H03K19/0175
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 刘杰
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 直通 高压 数据传输 接口 电路
【权利要求书】:

1.一种直通型高压数据传输接口电路,其特征在于,包括高压数据读电路和高压数据写电路;

其中,所述高压数据读电路包括第一高压电流偏置产生电路、驱动电路和开关选择电路,所述第一高压电流产生电路通过所述开关电路与所述驱动电路相连,所述第一高压电流产生电路用于产生高压偏置电流,所述驱动电路通过所述开关选择电路的接通,控制所述高压偏置电流的通断;

其中,所述高压数据写电路包括第二高压电流偏置产生电路和逻辑电路,所述高压电流偏置产生电路通过所述逻辑电路判断电流的有无,产生相应的逻辑信号。

2.根据权利要求1所述的传输接口电路,其特征在于,所述第一高压电流偏置产生电路包括第一MOS晶体管和第一电阻,所述第一MOS晶体管的栅极和源极均与所述第一电阻的一端相连,所述第一电阻的另一端与LPNP三极管相连,所述第一晶体管通过所述第一电阻产生高压偏置电流。

3.根据权利要求1所述的传输接口电路,其特征在于,所述第二高压电流偏置产生电路包括第二MOS晶体管和第二电阻组成,所述第二电阻与所述第二MOS晶体管的漏极相连,所述第二MOS晶体管的源极与所述第二MOS晶体管的衬底相连。

4.根据权利要求1所述的传输接口电路,其特征在于,所述开关选择电路根据芯片的数字地址信息,选通所述LPNP三极管或者第三电阻通路。

5.根据权利要求2或3所述的传输接口电路,其特征在于,还包括高压二极管,所述高压二极管分别与第一MOS晶体管和所述第二MOS晶体管相连。

6.根据权利要求5所述的传输接口电路,其特征在于,所述第一MOS晶体管和所述第二MOS晶体管均为高压NMOS晶体管。

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