[发明专利]一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法

权利要求书

1.一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法，其特征在于：

（1）利用近红外光谱仪测得HF高振动态自发辐射荧光光谱，得到HF高振动态v=3,4,5,6,7的粒子数分布情况；

（2）仅需读取各个振转谱带P支的P1-P6六条谱线，适合R支谱线与

P支谱线部分重叠的低分辨率情况。

2.按照权利要求1所述的利用低分辨率荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法，包括近红外光谱仪、耦合光纤、信号采集计算机、振转谱线强度读取、数据处理技术，其特征在于：

其中，近红外光谱仪用于采集HF高振动态自发辐射荧光光谱；

其中，耦合光纤用于将激光器的荧光辐射传输到近红外光谱仪，其在近红外区的波长响应度均匀；

其中，信号采集计算机用于操纵光谱仪进行采集，以及进行数据处理；

其中，振转谱线强度读取采用了峰高代替峰面积，且仅读取各个振转谱带P支的P1-P6六条谱线；

其中，数据处理技术是指，在处理数据时，首先将(3-0,4-1,5-2,6-3,7-4)中的某个振转谱带的P1-P6谱线强度进行加和，然后除以该振动态的爱因斯坦系数，即可得到该振动能级的相对粒子数。