[发明专利]一种在透射和反射测量间切换的测光装置

权利要求书

1.一种在透射和反射测量间切换的测光装置，包括光源、探测器、透射测量光路组件、反射测量光路组件和样品架组件，其特征在于：样品承载于样品架组件上，样品架组件可带动样品旋转；在装置采用透射测量方式时，所述透射测量光路组件放置于光源与探测器之间，样品架组件带动样品旋转，使得透射测量光路组件将从光源发出的探测光线聚焦后垂直投射到样品入射面上，探测光线从样品透射后，透射测量光路组件将探测光线准直后输出至所述探测器；在装置采用反射测量方式时，所述反射测量光路组件放置于光源与探测器之间，样品架组件旋转，使得反射测量光路组件将从光源发出的探测光线聚焦后以角度θ投射到样品入射面上，探测光线从样品入射面反射后，反射测量光路组件将探测光线准直后输出至所述探测器，其中，所述角度θ与探测光线在样品入射面的反射率成反比。

2.根据权利要求1所述的在透射和反射测量间切换的测光装置，其特征在于，所述透射测量光路组件包括两个平面反射镜和两个离轴抛物面镜，其中，在所述测光装置采用透射测量方式时，第一平面反射镜将从所述光源接收的探测光线送至第一离轴抛物面镜，第一离轴抛物面镜对探测光线进行汇聚并将探测光线垂直反射至样品入射面，第二离轴抛物面镜接收从样品中透射的探测光线并将其准直后反射至第二平面反射镜，第二平面反射镜最终将探测光线送至所述探测器；所述反射测量光路组件包括两个离轴抛物面镜和四个平面反射镜，其中，所述测光装置采用反射测量方式时，第三平面反射镜将从光源接收的探测光线反射至第三离轴抛物面镜，第三离轴抛物面镜对探测光线进行汇聚后将其反射至第四平面反射镜，第四平面反射镜再将探测光线以角度θ反射至样品入射面，第五平面反射镜接收从样品入射面反射的探测光线并将其反射至第四离轴抛物面镜，第四离轴抛物面镜将探测光线准直并反射至第六平面反射镜，第六平面反射镜最终将探测光线反射至所述探测器。

3.根据权利要求1或2所述的在透射和反射测量间切换的测光装置，其特征在于，所述样品架组件包括均呈方形片状的样品架底座和样品固定装置，所述样品固定装置在四边均开有安装孔，相对的两个安装孔的中心连线互相垂直；样品固定在所述样品固定装置的一侧表面，样品的入射面与该侧表面垂直；所述样品架底座上固定连接两个销钉，该两个销钉与所述样品固定装置上的任意两个相对的安装孔互相配合，使得样品架底座与所述样品架固定装置有两种连接方式：在所述测光装置采用透射测量方式时，样品架固定装置上的其中两个相对的安装孔与所述样品架底座上的两个销钉连接，使得透射测量光路组件将从所述光源发出的探测光线聚焦后垂直投射到样品入射面上；在测光装置采用反射测量方式时，样品架固定装置上的另两个相对的安装孔与所述样品架底座上的两个销钉连接，使得反射测量光路组件将从光源发出的探测光线聚焦后以角度θ投射到样品入射面上。

4.根据权利要求1或2所述的在透射和反射测量间切换的测装置，其特征在于，所述样品架组件包括样品架底座和样品固定装置，所述样品架固定装置的一侧表面上加工有条形凸起，条形凸起上端固定所述样品，所述样品架底座上开有均与所述条形凸起配合的且互相垂直的两个条形孔，使得样品架底座与所述样品架固定装置有两种连接方式：在所述测光装置采用透射测量方式时，样品架固定装置上的条形凸起穿过所述样品架底座上的其中一个条形孔，使得透射测量光路组件将从光源发出的探测光线聚焦后垂直投射到样品入射面上；在所述测光装置采用反射测量方式时，样品架固定装置上的条形凸起穿过所述样品架底座上的另一个条形孔，使得反射测量光路组件将从光源发出的探测光线聚焦后以角度θ投射到样品入射面上。