[发明专利]一种应用于锁相环辐照实验的装置

权利要求书

1. 一种应用于锁相环辐照实验的装置，其特征在于：包括互相连接的辐照检测芯片和FPGA芯片，辐照检测芯片与待测芯片相连，用于检测待测芯片是否发生单粒子事件，以及发生单粒子事件的是待测芯片的哪一部分，然后将判断结果信号发送给FPGA芯片，FPGA芯片通过信号线连接到远程监控中心服务器，将辐照检测芯片发送过来的信号发送给服务器；所述待测芯片包括依次连接的鉴频鉴相器、电荷泵与环路滤波器模块、压控振荡器、分频器，所述分频器的输出端再连接鉴频鉴相器的输入，形成锁相环；所述辐照检测芯片包括：第一锁定检测电路、第二锁定检测电路、纹波检测电路、频率检测电路、信号判决电路、逻辑判断电路，以及一个与待测芯片中结构相同的鉴频鉴相器、一个与待测芯片中结构相同的分频器；待测芯片的鉴频鉴相器的输出信号连接到第一锁定检测电路；待测芯片的鉴频鉴相器的两个输入信号连接辐照检测芯片的鉴频鉴相器，然后再连接第二锁定检测电路；电荷泵与环路滤波器模块的输出信号连接纹波检测电路，压控振荡器的输出信号连接频率检测电路，压控振荡器的输出信号还连接到辐照检测芯片的分频器，辐照检测芯片的分频器和待测芯片的分频器输出信号连接信号判决电路，通过信号判决电路判断两个信号是否相同；所述第一锁定检测电路、第二锁定检测电路、纹波检测电路、频率检测电路和信号判决电路的输出端连接到一个逻辑判断电路，逻辑判断电路输出待测芯片中是否发生了单粒子事件以及是哪一个模块发生了单粒子事件的判决信号。

2.根据权利要求1所述的应用于锁相环辐照实验的装置，其特征在于，所述辐照检测芯片的鉴频鉴相器、第一锁定检测电路和第二锁定检测电路的组合，用于检测待测芯片的鉴频鉴相器是否发生了单粒子事件。

3.根据权利要求1所述的应用于锁相环辐照实验的装置，其特征在于，所述辐照检测芯片的纹波检测电路和第一锁定检测电路的组合，用于判断待测芯片的电荷泵与环路滤波器模块是否发生了单粒子事件。

4.根据权利要求1所述的应用于锁相环辐照实验的装置，其特征在于，所述辐照检测芯片的频率检测电路和纹波检测电路的组合，用于判断待测芯片的压控振荡器是否发生了单粒子事件。

5.根据权利要求1所述的应用于锁相环辐照实验的装置，其特征在于，所述辐照检测芯片的分频器和信号判决电路的组合，用于判断待测芯片的分频器是否发生了单粒子事件。

6.根据权利要求1所述的应用于锁相环辐照实验的装置，其特征在于，所述信号判决电路采用异或门电路。