[发明专利]一种强干扰条件下调频连续波防撞雷达目标检测方法有效

专利信息
申请号: 201310676049.4 申请日: 2013-12-12
公开(公告)号: CN103698766A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 李飞;高一栋;曹锋;王伟;杜自成;牟聪 申请(专利权)人: 西安电子工程研究所
主分类号: G01S13/93 分类号: G01S13/93;G01S13/32;G01S7/36;G01S7/35
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 王鲜凯
地址: 710100 *** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 干扰 条件下 调频 连续 波防撞 雷达 目标 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种强干扰条件下调频连续波防撞雷达目标检测方法,具体涉及射频干扰条件下,小型化调频连续波(FMCW)防撞雷达应用时分复用阵列信号处理与自适应波束形成算法搜索目标,抑制压制干扰和方向性干扰,增强目标信干噪比(SINR),提高目标的检测概率。

背景技术

在我国汽车数量逐年增加,公路交通安全问题日益突出的情况下,迫切需要找到一种合适的汽车主动防撞装置,用来确保行车安全。国内外已经开始对毫米波雷达防撞系统进行了研究,这是因为毫米波特性能够适应恶劣的气候条件;不会因为灰尘等污染而产生误差,比较适合公路防撞运用。防撞雷达主要是指前向防撞雷达,具备测速、测距以及测角的功能,判断目标车辆对己车的威胁程度,发出不同警报信息提醒司机注意安全。

为了实现防撞雷达小型化和商用化的目的,一般采用调频连续波(FMCW)体制,利用发射频率和接收频率之间的差频实现目标测距功能。当较多车辆装有同频段调频连续波防撞雷达时或者当电磁环境比较复杂时,存在大量射频干扰,造成防撞雷达严重的电磁波交叉干扰,使极低信干噪比(SINR)条件下有用目标检测和信息提取成为难点。

目前,为了有效的在电磁波交叉干扰条件下进行目标检测,李军提出采用自适应数字波束形成技术来抑制强干扰和射频干扰对有用信号的影响,但对于汽车防撞雷达来讲,成本是其商品化的决定因素之一,多阵列就意味着成本急速上升。谢苏道提出将Costas码引入发射信号设计中,这种办法从发射波形设计的角度上入手;安洪亮提出采用以随机斜率的三角波LFMCW作为雷达的发射波形,但是上述两种方法会造成频率模块的复杂化,同样意味着成本的上升和体积重量的增加。

发明内容

要解决的技术问题

为了避免现有技术的不足之处,本发明提出一种强干扰条件下调频连续波防撞雷达目标检测方法,采用时分复用阵列信号处理和自适应波束形成算法,提出一种综合应用时分复用阵列信号与自适应波束形成算法,实现防撞雷达小型化、实用化,和在电磁波干扰条件下防撞雷达能有效检测目标的目的。

技术方案

一种强干扰条件下调频连续波防撞雷达目标检测方法,其特征在于步骤如下:

步骤1:通过高速射频开关分时接收回波的模拟信号,然后对模拟信号进行混频处理,下变频后得到40M的中频信号;

步骤2:通过50M采样频率对40M的中频信号进行AD采样得到数字信号;将数字信号进行IQ变换,由实信号转换为复信号;

对复信号进行首先按照不同通道接收的先后顺序进行空间重排,由串行数据转换为N个不同通道的并行数据;然后对并行数据进行时间偏移,以第一个通道为基准,不同通道偏移不同时间周期T,形成以不同通道为列向量,同一通道不同的接收时间为行向量的阵列信号,具体如下:

设通道切换的时间周期为T,通过时间重排,第N个接收通道时域表达式为:

RN'(t)=RN(t+(N-1)T)

转换至频域表达式为:

RN'(f)=RN(f)*exp(j2πf(N-1)T)

其中,RN表示实际第N个接收通道的接收信号,RN'为通过时间补偿后第N个接收通道的接收信号;

步骤3:对阵列信号的行向量表示的单元进行FFT处理,通过公式R=(f/(B/T))*c/2到目标的距离信息,其中,R为目标距离,f为FFT处理得到的频率,B为信号带宽,T为信号时宽,c为光速;

对阵列信号的列向量表示的单元首先进行FFT粗处理,然后对有目标的单元进行Capon细处理,得到目标的距离—方位成像信息;

步骤4:对距离—方位成像信息通过GO-CFAR进行目标检测,得到检测目标:对频率的上升沿和下降沿检测的目标以2*50/λ为频率门限;根据正负频率和值最小的原则进行配对处理,然后按照如下公式得到目标真实的距离和速度:

R=((f+-f-)/2/(B/T))*c/2

V=((f++f-)/2)*λ/2

其中,R为目标距离,V为目标速度,f+为上升沿的频率,f-为下降沿的频率,B为信号带宽,T为信号时宽,c为光速,λ为信号波长;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子工程研究所,未经西安电子工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310676049.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top