[发明专利]用于物体的层析光声成像的手持装置和方法

权利要求书

1.一种用于物体（8）的光声成像的手持装置（10）包括：

用于利用电磁辐射（5，20）特别是光来照射所述物体（8）的照射单元（2b，16），以及

用于检测在利用电磁辐射（5，20）的照射之后在所述物体（8）中生成的声波特别是超声波的检测器单元（1a，14），其中，所述检测器单元（1a，14）包括检测器元件阵列，

其特征在于，

凹部（6，12），其中，在所述凹部（6，12）中提供所述照射单元（2b，16）和所述检测器元件阵列，其中，所述检测器元件设置在所述凹部（6，12）中以使得至少一部分所述检测器元件的表面法线（21）指向所述物体（8）上或内的感兴趣区域。

2.根据权利要求1所述的手持装置（10）包括：

容器（11），其中，所述凹部（12）与所述照射单元（16）和所述检测器单元（14）一起设置在所述容器（11）中，和

承载架（22），其中，所述容器（11）可移动地安装在所述承载架（22）上或内，以使得特别是当从所述物体（8）获取图像时，能够朝着所述物体（6）和/或远离所述物体（8）移动所述容器（11），其中，能够改变所述感兴趣区域的位置和/或所述物体（8）的被照射区域的位置。

3.根据前述权利要求中的任一项所述的手持装置（10），其中，所述凹部（6，12）设置有覆盖元件（4，18）特别是被覆盖元件（4，18）密封，以使得所述凹部（6，12）和所述覆盖元件（4，18）一起构成腔体，并且其中，所述腔体容纳耦合介质特别是水。

4.根据权利要求3所述的手持装置，其中，所述物体（8）的所述感兴趣区域位于所述覆盖元件（4，18）的周围或所述覆盖元件（4，18）的远处。

5.根据权利要求3或4所述的手持装置（10），其中，所述覆盖元件（4，18）为机械柔性元件，特别是隔膜或薄膜。

6.根据权利要求3至5中的任一项所述的手持装置（10），其中，所述覆盖元件（18）的至少一部分具有凸面形状，特别是垫状的形状。

7.根据权利要求3至6中的任一项所述的手持装置（10），其中，所述覆盖元件（4，18）被设置和/或设计为使得当从物体（8）获取图像时，所述覆盖元件（4，18）的至少一部分与物体（8，9）接触。

8.根据权利要求3至7中的任一项所述的手持装置（10），其中，提供至少一个输送单元（3b，15，15’），以用于将所述耦合介质输送到所述凹部（6，12）中和/或从所述凹部（6，12）输送出去。

9.根据以上权利要求中的任一项所述的手持装置（10），其中，检测元件阵列（1a，14）为弯曲的检测元件阵列。

10.根据前述权利要求中的任一项所述的手持装置（10），其中，所述凹部（12）包括至少一个弯曲的特别是凹面的表面（17）和/或由至少一个弯曲的特别是凹面的表面（17）构成。

11.根据权利要求9和10所述的手持装置（10），其中，所述弯曲的检测元件阵列（14）设置在所述凹部（12）的弯曲表面（17）处和/或构成所述凹部（12）的弯曲表面（17）的一部分。

12.根据权利要求10或11所述的手持装置（10），其中，所述照射单元（16）设置在所述凹部（12）的所述弯曲表面（17）上。

13.根据权利要求10至12中的任一项所述的手持装置（10），其中，所述凹部（12）的所述弯曲表面（17）的至少一部分被设计为特别是被成形为使得减小或避免入射到所述凹部（12）的所述弯曲表面（17）上的声波朝着所述检测器元件阵列（14）的反射。

14.根据前述权利要求中的任一项所述的手持装置（10），其中，所述检测器元件阵列（14）的形状特别是曲率和/或尺寸和/或角视界取决于所述物体（8）的尺寸和/或所述物体（8）的所述感兴趣区域的尺寸。

15.一种通过借助照射单元（2b，16）利用电磁辐射（5，20）特别是光对物体（8）进行照射，并且借助检测元件阵列（1a，14）检测在利用电磁辐射（5，20）的照射之后在所述物体（8）中生成的声波特别是超声波，以进行所述物体（8）的光声成像的方法，

其特征在于，

在所述凹部（6，12）中提供所述照射单元（2b，16）和所述检测器元件阵列（1a，14），所述检测器元件设置在所述凹部（6，12）中以使得至少一部分所述检测器元件的表面法线（21）指向所述物体（8）上或内的感兴趣区域。