[发明专利]LED控制卡测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别是涉及一种LED控制卡测试系统及方法。

背景技术

LED（Light emitting diode，发光二极管）显示屏由于具有亮度高、工作电压低、功耗小、大型化、寿命长、耐冲击、性能稳定等优点，受到广泛关注而迅速发展。LED显示屏的发展前景极为广阔，目前LED显示屏已经广泛应用于体育场馆、商业应用、银行、证券、邮政、码头、商场等不同场所的广告宣传。

LED显示屏一般包括LED模组和LED控制卡。LED模组包含LED阵列和相应的驱动电路，通过LED控制卡为各LED模组提供控制信号，进而控制LED阵列的亮灭，实现图像的显示。

因此，在LED显示屏的生产及维修过程中，必然涉及到对LED控制卡的测试，传统的测试方法是搭建一个模拟LED控制卡正常工作的环境，将LED控制卡与LED模组相连，根据LED模组实际显示内容与预期内容相比，推测LED控制卡发生错误的原因及位置。故，传统技术是依靠人眼观察和人工分析判断，测试效率低、误判率高并且人工成本高。

发明内容

基于此，有必要提供一种LED控制卡测试系统及方法，应用本系统、方法能够提高测试效率、降低误判率和人工成本。

一种LED控制卡测试系统，包括：上位机和LED控制卡阵列，所述上位机连接所述LED控制卡阵列；所述LED控制卡阵列中包括一个或两个以上相串联的LED控制卡；

所述LED控制卡包括测试控制模块和功能电路模块，所述测试控制模块连接所述功能电路模块；

所述测试控制模块，用于向所述功能电路模块发送测试向量，采集测试结果，并将所述测试结果传输给所述上位机；

所述上位机，用于根据所述测试结果，汇总为测试文档。

在其中一个实施例中，所述LED控制卡包括两个网口，所述LED控制卡阵列中两相邻LED控制卡通过网口相串联，所述LED控制卡阵列中处于边缘的LED控制卡通过网口连接所述上位机。

在其中一个实施例中，所述测试控制模块包括处理器和程序存储器；所述处理器连接所述程序存储器和所述两个网口；

所述功能电路模块包括偶数个显示数据输出接口和数据存储器；所述偶数个显示数据输出接口和所述数据存储器分别连接所述FPGA；

所述程序存储器，用于存储测试程序；

所述处理器，用于执行所述测试程序，向所述显示数据输出接口、所述数据存储器发送测试向量，采集测试结果，并将所述测试结果通过网口传输给所述上位机。

在其中一个实施例中，所述处理器为FPGA；所述程序存储器为flash存储电路；所述数据存储器为SDRAM。

在其中一个实施例中，所述上位机还用于通过所述网口向所述LED控制卡发送CRC校验码，所述处理器用于接收所述CRC校验码进行CRC校验，得到所述网口的传输误码率，并将所述传输误码率返回给所述上位机。

一种LED控制卡测试方法，包括：

向LED控制卡中的功能电路模块发送测试向量，采集测试结果，并将所述测试结果传输给上位机；

所述上位机根据所述测试结果进行汇总，得到测试文档。

在其中一个实施例中，所述LED控制卡包括两个网口，相邻两LED控制卡通过网口相串联组成LED控制卡阵列。

在其中一个实施例中，所述向LED控制卡中的功能电路模块发送测试向量、采集测试结果的步骤，包括：

向所述显示数据输出接口、所述SDRAM发送测试向量，采集测试结果。

在其中一个实施例中，所述向显示数据输出接口、SDRAM发送测试向量，采集测试结果的步骤包括：

将偶数个显示数据输出接口中每两个作为一组，互为输入输出，向作为输出的显示数据接口的引脚发送测试向量，并采集作为输入的显示数据接口对应引脚的测试结果；

根据SDRAM的地址线，通过数据线向SDRAM中的存储空间发送测试向量，再从所述存储空间读出测试结果。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

所述上位机通过网口向所述LED控制卡发送CRC校验码，由所述LED控制卡进行CRC校验，得到网口的传输误码率，并将所述传输误码率返回给所述上位机。

上述LED控制卡测试系统及方法，由LED控制卡三维测试控制模块向功能电路模块发送测试向量，并采集测试结果，以及将测试结果传输给上位机，上位机对测试结果进行汇总，得到测试文档，相比于传统技术全程需要人工参与测试和判别，提高了测试效率、降低了误判率和人工成本。