[发明专利]一种嵌入式设备测试异常信息自动捕获方法无效
| 申请号: | 201310665150.X | 申请日: | 2013-12-10 |
| 公开(公告)号: | CN103631718A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
| 发明(设计)人: | 谢奕勇 | 申请(专利权)人: | 深圳市共进电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 深圳市智科友专利商标事务所 44241 | 代理人: | 孙子才 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市南山区蛇口南海大道1019号*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 嵌入式 设备 测试 异常 信息 自动 捕获 方法 | ||
1.一种嵌入式设备测试异常信息自动捕获方法,其特征在于:包括以下步骤:
A、启动待测嵌入式设备,保存侦测信息文件;
B、在待测嵌入式设备的软件中实现strace 绑定待侦测的进程;
C、把信息捕获到指定的文件;
D、监控所述的指定的文件,当其大小超过阀值时,自动清空旧的数据。
2.根据权利要求1所述的嵌入式设备测试异常信息自动捕获方法,其特征在于:在启动待测产品后,通过代码创建进程时的名称获取该进程的pid参数,代码实现绑定待侦测的进程,所述的步骤B中,通过命令strace -o %s -i -f -p %d ,实现绑定pid指定的进程,并保存侦测信息保存,防止待测产品异常死机无法保存信息。
3. 根据权利要求2所述的嵌入式设备测试异常信息自动捕获方法,其特征在于:在步骤D中,自动清空旧的数据时,将其先保存到与该待测产品相连的非易失性存储设备中。
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