[发明专利]一种嵌入式设备测试异常信息自动捕获方法无效

专利信息
申请号: 201310665150.X 申请日: 2013-12-10
公开(公告)号: CN103631718A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 谢奕勇 申请(专利权)人: 深圳市共进电子股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 深圳市智科友专利商标事务所 44241 代理人: 孙子才
地址: 518000 广东省深圳市南山区蛇口南海大道1019号*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 嵌入式 设备 测试 异常 信息 自动 捕获 方法
【权利要求书】:

1.一种嵌入式设备测试异常信息自动捕获方法,其特征在于:包括以下步骤:

A、启动待测嵌入式设备,保存侦测信息文件;

B、在待测嵌入式设备的软件中实现strace 绑定待侦测的进程;

C、把信息捕获到指定的文件;

D、监控所述的指定的文件,当其大小超过阀值时,自动清空旧的数据。

2.根据权利要求1所述的嵌入式设备测试异常信息自动捕获方法,其特征在于:在启动待测产品后,通过代码创建进程时的名称获取该进程的pid参数,代码实现绑定待侦测的进程,所述的步骤B中,通过命令strace -o %s -i -f -p %d ,实现绑定pid指定的进程,并保存侦测信息保存,防止待测产品异常死机无法保存信息。

3. 根据权利要求2所述的嵌入式设备测试异常信息自动捕获方法,其特征在于:在步骤D中,自动清空旧的数据时,将其先保存到与该待测产品相连的非易失性存储设备中。

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