[发明专利]一种N源间隔输送制备氮化物单晶薄膜及方法有效
申请号: | 201310629266.8 | 申请日: | 2013-12-02 |
公开(公告)号: | CN103710747A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 李忠辉 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
主分类号: | C30B25/18 | 分类号: | C30B25/18;C30B25/22;C30B29/38;B32B9/00 |
代理公司: | 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 | 代理人: | 沈根水 |
地址: | 210016 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 间隔 输送 制备 氮化物 薄膜 方法 | ||
1.一种N源间隔输送制备的氮化物晶薄膜,其特征是在单晶衬底上是氮化铝AlN缓冲层;在氮化铝AlN缓冲层上是氮化物单晶薄膜。
2.如权利要求1所述的一种N源间隔输送制备氮化物晶薄膜的方法,其特征是该方法包括如下工艺步骤:
1)单晶衬底放入反应室,高温烘烤;
2)在单晶衬底上制备Al浸润层;
3)在浸润层上制备氮化铝AlN缓冲层;
4)在氮化铝AlN缓冲层上制备氮化物单晶薄膜;
5)降至室温,取出。
3.根据权利要求1所述的一种N源间隔输送制备的氮化物晶薄膜,其特征是所述的单晶衬底为蓝宝石、碳化硅SiC、硅Si、氮化镓、氮化铝、绝缘体上硅(SOI)或铝酸锂。
4.根据权利要求1所述的一种N源间隔输送制备的氮化物晶薄膜,其特征是所述的氮化铝AlN缓冲层制备过程中和制备结束后在规定时间内,始终通入In源。
5.根据权利要求1所述的一种N源间隔输送制备的氮化物晶薄膜,其特征是所述氮化铝AlN缓冲层采用先持续稳定通入Al源,再通入N源5-30秒后停止5-30秒的间隔输送方法制备,直至AlN缓冲层厚度满足要求。
6.根据权利要求1所述的一种N源间隔输送制备的氮化物晶薄膜,其特征是所述的氮化铝AlN缓冲层的制备温度TL为500℃≤TL≤1300℃,厚度t为10nm≤t≤1000nm。
7.根据权利要求1所述的一种N源间隔输送制备的氮化物晶薄膜,其特征是所述的氮化物单晶薄膜包括氮化镓、氮化铝、氮化铟二元单晶薄膜,或者由其组成的多元单晶薄膜,以及多层结构。
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