[发明专利]日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及滤光片参数测试领域，具体涉及日盲紫外滤光片带外截止深度的测试方法。

背景技术

日盲紫外滤光片是日盲紫外成像探测中的重要光学元件，其带外截止深度指在近紫外、可见及近红外谱段对入射辐照的抑制能力，准确测试带外截止深度对于实现与探测器的光谱优化匹配进而提升系统信噪比具有重要意义。现有测试仪器主要有分光光度计、DF透反仪、声光调制检测系统等对滤光片带外截止深度可测试范围最大仅有8-OD，而日盲紫外紫外滤光片的带外截止深度均在8-OD之上，部分谱段超过10-OD，目前已有的装置无法准确测试日盲紫外滤光片带外截止深度。

发明内容

本发明为解决带外深度截止滤光片的截止深度无法测试的问题，提供一种日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法。

日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法，该方法由以下步骤实现：

步骤一、选择衰减片系数为k的衰减片；

步骤二、光源通过滤光片后的光信号由探测器接收，所述探测器将接收的光信号转换为电信号I_f，并根据电信号I_f选择衰减片的片数N，

步骤三、光源通过衰减片后的光信号由探测器接收并将光信号转换为电信号I_a；

步骤四、根据步骤一、步骤二和步骤三分别获得的衰减片系数k、衰减片的片数N、电信号I_f以及电信号I_a，计算滤光片带外截止深度：

τf=IfIa·kN.]]>

本发明的有益效果：本发明所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法，解决了带外深度截止滤光片的截止深度无法测试的问题，增大了滤光片测量截止深度的动态范围；同时，所述测试方法可延伸至其他种类滤光片或其他材料如液体的透过率测量领域。

附图说明

图1为本发明所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法的流程图；

图2为本发明所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法中衰减片的光谱衰减系数示意图；

图3为本发明所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法中光源的光谱强度示意图；

图4为本发明所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法中N片衰减片叠加使用的方法示意图；

图5为本发明所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置的俯视图；

图6为本发明所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置侧视图。

具体实施方式

具体实施方式一、结合图1至图4说明本实施方式，日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法，包括以下步骤：

一、提供衰减系数为k的衰减片。参见图2为本实施例提供的所述衰减片的光谱衰减系数，如波长为550nm时衰减片的系数为8.695102%。

二、由探测器探测光源通过日盲紫外滤光片的输出电信号。该步骤具体为：将所述光源对准所述探测器的光敏面，在所述光源与所述光敏面之间放置所述日盲紫外滤光片，由所述探测器探测所述光源经过所述日盲紫外滤光片后的所述输出电信号。结合图3为本实施例提供的所述光源的光谱强度。

三、根据选择所述衰减片片数N并将其叠加使用，由所述探测器探测所述光源通过所述衰减片的输出电信号。该步骤具体为：根据通过所述日盲紫外滤光片的所述输出电信号的量级，选择所述衰减片片数N并将其叠加使用，使通过所述衰减片的所述输出电信号与通过所述日盲紫外滤光片的所述输出电信号的量级相近。通过所述衰减片的所述输出电信号与通过所述日盲紫外滤光片的所述输出电信号量级相近，表示通过所述衰减片的所述输出电信号与通过所述日盲紫外滤光片的所述输出电信号两者数值相差小于等于一个数量级。