[发明专利]一种检测键盘的系统无效
申请号: | 201310596829.8 | 申请日: | 2013-11-22 |
公开(公告)号: | CN103592310A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 刘明明 | 申请(专利权)人: | 昆山视杰维光电科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
地址: | 215311 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 键盘 系统 | ||
技术领域
本发明涉及键盘检测领域,尤其涉及一种检测键盘的系统。
背景技术
键盘作为一种输入设备,是电脑设备中不可或缺的外置设备。常用的键盘通常包括100多个按键,为了确保产品的品质,在键盘出厂前必须对键盘的按键进行检测,确保每个按键表面无缺陷。
发明内容
本发明实施例提供一种检测键盘的系统,以自动检测键盘表面的缺陷。
本发明实施例提供了一种检测键盘的系统,所述系统包括:检测触发装置、图像采集器、图像处理器和显示器;
其中,所述检测触发装置与所述图像采集器连接,用于检测预设区域内是否有待检测的键盘,在检测到所述预设区域内有所述待检测的键盘时,生成采集脉冲信号,并将所述采集脉冲信号发送至所述图像采集器;
所述图像采集器与所述图像处理器相连,用于根据接收的所述采集脉冲信号采集所述待检测的键盘的图像,并将采集的所述待检测的键盘的图像发送至所述图像处理器;
所述图像处理器与所述显示器相连,用于通过比对接收的所述待检测的键盘图像与预存标准键盘图像,检测所述待检测的键盘是否满足预设条件,并将检测结果发送到所述显示器;
所述显示器用于接收并显示所述检测结果。
进一步地,所述图像处理器还用于根据所述检测结果生成检测结果信号;所述系统还包括:键盘处理装置,所述键盘处理装置与所述图像处理器连接,用于在所述检测结果信号的控制下,对所述待检测的键盘进行分类处理。
进一步地,所述键盘处理装置包括:工控机,所述工控机与所述图像处理器连接,用于在所述检测结果信号表示所述待检测的键盘不满足预设条件时,生成剔废信号;剔废装置,所述剔废装置与所述工控机连接,用于在所述剔废信号的控制下,将所述待检测的键盘移除。
进一步地,所述工控机还用于在所述检测结果信号表示所述待检测的键盘满足预设条件时,生成运动控制信号;所述键盘处理装置还包括:工位测试台,所述工位测试台与所述工控机相连,用于放置所述待检测的键盘,并在所述运动控制信号的控制下移动。
进一步地,所述检测触发装置还用于检测到所述预设区域内有待检测的键盘时生成照明脉冲信号;所述系统还包括:光源控制器和光源,所述光源控制器与所述检测触发装置连接,用于接收所述检测触发装置生成的照明脉冲信号,并在所述照明脉冲信号的控制下打开所述光源;所述光源与所述光源控制器连接,用于在所述光源控制器的控制下为所述图像采集器提供光。
进一步地,视觉传感器、镜头和图像采集卡,所述视觉传感器与所述镜头相连,用于根据接收的所述采集脉冲信号扫描得到所述镜头内的所述待检测的键盘的图像;所述图像采集卡与所述视觉传感器相连,用于采集并数字化所述视觉传感器扫描得到的所述待检测的键盘的图像。
进一步地,所述视觉传感器为电荷耦合元件CCD传感器或互补金属氧化物半导体CMOS传感器。
进一步地,所述图像采集卡为以下任一采集卡:DSP采集卡、1394采集卡、Camera-link采集卡、以太采集卡或模数采集卡。
进一步地,所述图像处理器包括:图像处理模块和输入输出I/O接口;其中,所述输入输出I/O接口用于接收所述待检测的键盘的图像;所述图像处理模块用于比对接收的所述待检测的键盘图像与预存标准键盘图像,检测所述待检测的键盘是否满足预设条件,并将所述检测结果通过所述输入输出I/O接口发送给所述显示器。
本发明提供的检测键盘的系统,通过检测触发装置在检测到预设区域内有待检测的键盘时生成采集脉冲信号,图像采集器根据采集脉冲信号采集待检测键盘的图像,图像处理器比对待检测键盘的图像与预存标准键盘图像,并将检测结果在显示器上显示,能够自动检测键盘表面是否有缺陷。
附图说明
图1是本发明第一实施例中的检测键盘的系统的结构示意图。
图2是本发明第二实施例中的检测键盘的系统的结构示意图。
图3是本发明第三实施例中的检测键盘的系统的结构示意图。
图4是本发明第四实施例中的检测键盘的方法的流程图。
附图标记:1-检测触发装置,2-图像采集器,21-视觉传感器,22-镜头,23-图像采集卡,3-图像处理器,31-图像处理模块,32-输入输出接口,4-显示器,5-键盘处理装置,51-工控机,52-工位测试台,53-剔废装置,6-光源控制器,7-光源。
具体实施方式
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