[发明专利]一种用于卫星综合电子系统的验证系统有效
申请号: | 201310594461.1 | 申请日: | 2013-11-22 |
公开(公告)号: | CN103676657A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 安卫钰;李明峰;韩笑冬;徐楠;张珂;潘瑞 | 申请(专利权)人: | 中国空间技术研究院 |
主分类号: | G05B15/02 | 分类号: | G05B15/02;G01R31/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 臧春喜 |
地址: | 100194 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 卫星 综合 电子 系统 验证 | ||
技术领域
本发明涉及一种验证系统,适用于卫星综合电子系统的测试与验证,属于测试技术领域。
背景技术
卫星综合电子系统由星载计算机和综合处理单元组成,星载计算机主要完成卫星星务管理功能,通过总线与多台综合处理单元进行数据交互,发送遥控指令并接收遥测信息;综合处理单元接收星载计算机的控制信息,完成温度量采集、模拟量采集、矩阵指令分发、开关状态采集、加热器配电管理、载荷二级总线管理等功能,并将采集信息汇总传送到星载计算机。为了验证综合电子系统各单机设备之间电性能接口的正确性、匹配性和兼容性,需要对其进行全面的功能和性能验证,完成分系统联试。传统的综合电子系统验证方法主要对设备的性能指标进行验证,通过测试得到设备当前状态的一套测试数据。
传统的验证方法主要存在以下3个问题:1、侧重于对设备的单项指标进行验证,对多项性能指标之间的关联性验证不足,如不能测试多路加热器同时开启的时候是否会对遥测采集模块的数据采集产生干扰,因此测试的覆盖性不够。2、测试时仅是针对设备的当前状态进行测试,无法对设备接口特性的裕度指标进行定量的测试,不能在分系统联试阶段验证设备在极限环境下的工作性能,如不能测试在某种工况下数字信号幅值变化对数据传输造成的影响。3、自动化程度不高,大量的测试验证需要人工操作,指令的发送和遥测的判读完全由人工进行,测试结果也无法进行自动保存,造成测试的效率不高,时间较长。
目前,综合电子系统各单机均采用了集成模块设计思想,功能集中复杂性高,所以传统的验证设备已不能适应综合电子系统功能兼容性和裕度指标的高效测试验证。
发明内容
本发明的技术解决问题是:克服现有验证技术的不足,设计了一种用于卫星综合电子系统的验证系统,增强测试验证的覆盖性和自动化程度。
本发明的技术解决方案是:一种用于卫星综合电子系统的验证系统,由被测试设备和验证系统测试设备组成,被测试设备中的星载计算机、第一综合处理单元和第二综合处理单元通过总线完成数据交互;验证系统测试设备包括地面专检设备、遥测遥控通道设备、总线监视器和主控计算机,主控计算机通过以太网TCP/IP协议与遥测遥控通道设备、地面专检设备、总线监视器进行数据交互,主控计算机通过遥测遥控通道设备与星载计算机完成遥测遥控信息的交互,通过地面专检设备完成与第一综合处理单元和第二综合处理单元的指令和遥测信息传递,并接收地面专检设备自身的状态信息;总线监视器实时监视、接收总线上的数据,并将接收的数据通过以太网反馈至主控计算机。
地面专检设备包括模拟量激励源、温度量激励源、离散指令模拟器、载荷二级总线模拟器、加热器配电模拟器、矩阵指令模拟器、开关状态模拟器、蓄电池行为模拟器和接口裕度验证设备,
模拟量激励源,由主控计算机进行模拟量电压值设置,输出电压值供第一综合处理单元和第二综合处理单元中的模拟量采集模块进行采集;
温度量激励源,由主控计算机进行温度敏感器状态的设置,输出温度值供第一综合处理单元和第二综合处理单元中的温度采集模块进行采集;
离散指令模拟器,接收第一综合处理单元和第二综合处理单元中的离散指令发送模块发出的离散指令,对指令信息进行记录,并将指令信息发送给主控计算机;
载荷二级总线模拟器,完成与第一综合处理单元和第二综合处理单元中载荷二级总线模块之间的遥控和遥测指令信息传输,并将传输的遥控和遥测指令信息发送给主控计算机;
加热器配电模拟器,为第一综合处理单元和第二综合处理单元中的加热器配电模块提供大功率负载,并将输出的电压和电流信息发送给主控计算机;
矩阵指令模拟器,接收第一综合处理单元和第二综合处理单元中矩阵指令发送模块发出的矩阵指令,对矩阵指令信息进行记录,并将矩阵指令信息发送给主控计算机;
开关状态模拟器,由主控计算机进行开关状态设置,输出开关状态供第一综合处理单元和第二综合处理单元中的开关状态采集模块进行采集;
蓄电池行为模拟器,由主控计算机进行电压电流设置,输出电压电流信息供第一综合处理单元和第二综合处理单元中的蓄电池管理模块进行采集;
接口裕度验证设备,由主控计算机进行信号电平和时延设置,输出电平和时延用于测试第一综合处理单元和第二综合处理单元在各种工况的工作性能,得到第一综合处理单元和第二综合处理单元的裕度指标。
本发明与现有技术相比的优点在于:
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