[发明专利]一种采用X射线衍射技术测量钢中奥氏体含量的方法有效

专利信息
申请号: 201310590061.3 申请日: 2014-01-16
公开(公告)号: CN103808743A 公开(公告)日: 2014-05-21
发明(设计)人: 杨英;范益;卞欣 申请(专利权)人: 南京钢铁股份有限公司
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 任立
地址: 210035*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 采用 射线 衍射 技术 测量 奥氏体 含量 方法
【说明书】:

技术领域

本发明属于X射线衍射(X-Ray Diffraction,XRD)试验领域,更具体地,本发明涉及一种利用X射线衍射技术测量钢中奥氏体含量的方法。

背景技术

目前,钢中奥氏体含量的测定往往采用直接对比法。根据标准GB/T8362-1987和YB/T5338-2006《钢中残余奥氏体定量测定X射线衍射仪法》规定:马氏体选用(200)、(211)两晶面的衍射线,奥氏体选用(200)、(220)、(311)三晶面衍射线,将所测量的五条衍射线进行组合并分别计算衍射强度比值,代入指定计算公式即可得到奥氏体含量。但是,应用此计算公式的前提条件是:马氏体相、奥氏体相中各衍射线间的累积强度比值,必须符合下表要求:

表1国标中规定的马氏体相、奥氏体相中各衍射线间的累积强度比值

然而,在试样存在织构(即择优取向)的情况下,试样的累积强度比往往会超过这个波动范围。然而,标准中并没有提及当强度比值超出允许范围时,研究人员该如何对衍射数据进行分析和处理。因此,为了克服择优取向对测量结果的影响,本专利采用取向几率密度法来测定钢中奥氏体含量,其基本原理是:

采用数学方法将具有择优取向的衍射强度换算成无规则取向的衍射强度。几率密度修正法本质上也是根据直接对比法原理计算奥氏体含量,只是通过数学处理的方法对衍射强度进行修正,消除或降低择优取向对试验结果的影响。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是,克服现有技术的缺点,提供一种在试样存在织构的情况下,提高钢中奥氏体含量测量准确性的采用X射线衍射技术测量钢中奥氏体含量的方法。

为了解决以上技术问题,本发明提供一种采用X射线衍射技术测量钢中奥氏体含量的方法,包括如下具体步骤:

步骤(1):利用X射线衍射仪扫描钢材试样,获得钢材试样的XRD图谱;

步骤(2):利用步骤(1)中XRD谱图及如下公式计算马氏体及奥氏体各晶面无择优取向时的相对衍射强度:

I=M·LP·F2·e-2M·A*(θ)

其中,LP定义为洛伦兹偏振因子,M定义为温度因子,F定义为结构因子,A*(θ)定义为吸收因子A(θ)的倒数,e-2M定义为温度因子,且LP=1+cos22θ4sin2θcosθ;]]>

步骤(3):对步骤(2)中的马氏体及奥氏体各晶面无择优取向时的相对衍射强度进行归一化处理,并通过XRD软件获得马氏体及奥氏体各晶面的实际衍射强度;

步骤(4):利用如下公式计算马氏体及奥氏体各晶面的取向几率密度:

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