[发明专利]一种信息处理方法及电子设备

权利要求书

1.一种信息处理方法，该方法应用于电子设备中，所述电子设备包括投影单元；所述投影单元能够播放并投影第一多媒体数据；其特征在于，所述方法包括：

获取第一事件；

解析所述第一事件，得到所述第一事件的第一特征参数；

当所述第一特征参数满足第一预定条件时，基于所述第一特征参数生成第一指令；响应所述第一指令，通过所述投影单元播放并投影与所述第一多媒体数据对应的第一显示画面；

当所述第一特征参数满足第二预定条件时，基于所述第一特征参数生成第二指令；响应所述第二指令，通过所述投影单元播放并投影与所述第一多媒体数据对应的第二显示画面；所述第二显示画面与所述第一显示画面镜像对称；

所述获取第一事件；解析所述第一事件，得到所述第一事件的第一特征参数，包括：

获取第一触控操作；

解析所述第一触控操作，得到所述第一触控操作的触点的个数；

判断所述触点的个数是否大于或等于第一预设阈值，得到第一判断结果；

当所述第一判断结果表明所述触点的个数大于或等于所述第一预设阈值时，基于多个所述触点的坐标信息获取与所述多个触点相关的斜率参数集；

统计所述斜率参数集中满足第一子条件的斜率的个数，以及满足第二子条件的斜率的个数。

2.根据权利要求1所述的信息处理方法，其特征在于，所述当所述第一特征参数满足第一预定条件时，基于所述第一特征参数生成第一指令，包括：

判断满足所述第一子条件的斜率的个数是否大于满足所述第二子条件的斜率的个数，得到第二判断结果；

当所述第二判断结果表明满足所述第一子条件的斜率的个数大于满足所述第二子条件的斜率的个数时，生成第一指令。

3.根据权利要求1所述的信息处理方法，其特征在于，所述当所述第一特征参数满足第二预定条件时，基于所述第一特征参数生成第二指令，包括：

判断满足所述第一子条件的斜率的个数是否小于满足所述第二子条件的斜率的个数，得到第三判断结果；

当所述第三判断结果表明满足所述第一子条件的斜率的个数小于满足所述第二子条件的斜率的个数时，生成第二指令。

4.根据权利要求1所述的信息处理方法，其特征在于，所述获取第一事件；解析所述第一事件，得到所述第一事件的第一特征参数，包括：

检测所述电子设备所处的通信状态；

当所述电子设备处于第一通信状态时，对目标对象进行深度检测；

解析深度检测的结果，得到所述目标对象的深度信息。

5.根据权利要求4所述的信息处理方法，其特征在于，所述当所述第一特征参数满足第一预定条件时，基于所述第一特征参数生成第一指令，包括：

解析所述目标对象的深度信息，提取所述目标对象的特征数据；

将所述目标对象的特征数据与特征数据库中预存的标准特征数据进行匹配，得到匹配结果；

当所述匹配结果表明所述目标对象的特征数据与第一标准特征数据相匹配时，生成第一指令。

6.根据权利要求4所述的信息处理方法，其特征在于，所述当所述第一特征参数满足第二预定条件时，基于所述第一特征参数生成第二指令，包括：

解析所述目标对象的深度信息，提取所述目标对象的特征数据；

将所述目标对象的特征数据与特征数据库中预存的标准特征数据进行匹配，得到匹配结果；

当所述匹配结果表明所述目标对象的特征数据与第二标准特征数据相匹配时，生成第二指令。