[发明专利]一种盆式绝缘子密度均匀性测试方法

权利要求书

1.一种盆式绝缘子密度均匀性测试方法，其特征在于：包括以下步骤：（1）、将被检测的盆式绝缘子放置在旋转平台上，采用工业射线层析检测技术，射线垂直于盆式绝缘子轴线透照，获得盆式绝缘子圆环状层析图像；

（2）、将盆式绝缘子圆环状层析图像按照共同圆心划分为相同角度的扇形，每个扇形按照共同圆心的径向等间距划分为扇形网格区域，通过测试每个扇形网格区域的灰度值，得出整个圆环状层析图像的灰度平均值；然后确定每个扇形网格区域灰度值与平均值之间的灰度差异百分比，

其中整个圆环状层析图像的灰度平均值                                                

灰度差异数值

灰度差异百分比

（3）、统计出正值最大灰度差异数值和负值最小灰度差异数值，其中正值最大灰度差异数值为密度最大点，负值最小灰度差异数值为密度最小点；

测试相邻两个扇形网格区域的灰度差异百分比差值变化率的绝对值，灰度差异百分比差值变化率的绝对值最大的为密度变化率最大区域；

其中灰度差异百分比差值变化率。

2.根据权利要求1所述的盆式绝缘子密度均匀性测试方法，其特征在于：所述的工业射线层析检测技术采用的是X射线。

3.一种盆式绝缘子密度均匀性测试方法，其特征在于：包括以下步骤：

（1）、制作对比试样；

（2）、将对比试样放置在旋转平台上，采用工业射线层析检测技术，射线垂直于对比试样轴线透照，获得对比试样圆形层析图像；测试三个对比试块的灰度值，然后根据三个对比试块的灰度值和步骤（1）所得的精确密度确定灰度值与密度之间的对比关系曲线；

（3）、将被测盆式绝缘子放置在步骤（2）所述的旋转平台上，采用步骤（2）所述的工业射线层析检测技术，射线垂直于被测盆式绝缘子轴线透照，获得被测盆式绝缘子圆环状层析图像； 

（4）、将被测盆式绝缘子圆环状层析图像按照共同圆心划分为相同角度的扇形，每个扇形按照共同圆心的径向等间距划分为扇形网格区域，通过测试每个扇形网格区域的灰度值，得出整个圆环状层析图像的灰度平均值；然后确定每个扇形网格区域灰度值与平均值之间的灰度差异百分比， 

其中整个圆环状层析图像的灰度平均值

灰度差异数值

灰度差异百分比

（5）、统计出正值最大灰度差异数值和负值最小灰度差异数值，其中正值最大灰度差异数值为密度最大点，负值最小灰度差异数值为密度最小点；

通过测试相邻两个扇形网格区域的灰度差异百分比差值变化率的绝对值，灰度差异百分比差值变化率的绝对值最大的为密度变化率最大区域；

其中灰度差异百分比差值变化率；

（6）、将被测盆式绝缘子的密度最大点、密度最小点的灰度值，与对比试样的灰度值与密度之间的对比关系曲线进行比对，可以得出被测盆式绝缘子的密度最大点的密度值和密度最小点的密度值。

4.根据权利要求3所述的盆式绝缘子密度均匀性测试方法，其特征在于：所述的对比试样为圆柱体结构，包括密度分别为1.0±0.2g/cm3、2.0±0.2g/cm3、3.0±0.2g/cm3的三个对比试块，每个对比试块的截面为扇形，扇形角度120°，扇形半径50mm，试块高度100mm，利用排液称重法确定精确密度。

5.根据权利要求4所述的盆式绝缘子密度均匀性测试方法，其特征在于：所述的工业射线层析检测技术采用的是X射线。