[发明专利]调整采样频率的扫描方法及使用该扫描方法的触控装置在审
| 申请号: | 201310585396.6 | 申请日: | 2013-11-19 | 
| 公开(公告)号: | CN104461186A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 | 
| 发明(设计)人: | 黄荣寿;吴珈穆 | 申请(专利权)人: | 义隆电子股份有限公司 | 
| 主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 | 
| 代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王刚 | 
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 调整 采样 频率 扫描 方法 使用 装置 | ||
1.一种触控单元的调整采样频率的扫描方法,其中该触控单元包括多条第一轴方向的迹线及多条第二轴方向的迹线,该扫描方法的步骤包括:
扫描该触控单元,以至少获得各该第一轴方向的迹线所分别对应的电容补偿值;
驱动各该第一轴方向的迹线;
依照被驱动的该第一轴方向的迹线所对应的电容补偿值来决定其所对应的一采样频率;及
以前述步骤所决定的该采样频率来读取各该第二轴方向的迹线与被驱动的该第一轴方向的迹线之间的感应值。
2.根据权利要求1所述的触控单元的调整采样频率的扫描方法,其中所述扫描该触控单元以获得各该第一轴方向的迹线所分别对应的电容补偿值的步骤中,以自容式且在一固定频率下驱动并读取该触控单元的第一轴方向的各迹线,以获得各该第一轴方向的迹线所对应的电容补偿值。
3.根据权利要求1所述的触控单元的调整采样频率的扫描方法,其中所述扫描该触控单元以获得各该第一轴方向的迹线所分别对应的电容补偿值的步骤中,以互容式且在一固定频率下驱动该触控单元的第一轴方向的迹线并读取各该第二轴方向的迹线,以获得该第一轴及第二轴方向的迹线相交错的多个感应点所对应的电容补偿值;其中将该同一第一轴方向的迹线上所有感应点所对应的电容补偿值加以运算,以产生该条第一轴方向的迹线所对应的电容补偿值。
4.根据权利要求3所述的触控单元的调整采样频率的扫描方法,其中所述产生该条第一轴方向的迹线所对应的电容补偿值,是取同一第一轴方向的迹线上所有感应点所对应的电容补偿值的平均值。
5.根据权利要求3所述的触控单元的调整采样频率的扫描方法,其中所述产生该条第一轴方向的迹线所对应的电容补偿值,是取同一第一轴方向的迹线上任一感应点的电容补偿值。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的触控单元的调整采样频率的扫描方法,其中所述依照被驱动的该第一轴方向的迹线所对应的电容补偿值来决定其所对应的采样频率的步骤包括:
设定一第一采样频率基准值,以对应多条第一轴方向的迹线的对应电容补偿值中最高电容补偿值;以及
依据被驱动的该第一轴方向的迹线的对应电容补偿值,设定其所对应的采样频率;其中各该第一轴方向的迹线依照其电容补偿值的大小由高至低,对应到以该第一采样频率基准值为基准由低至高递增的不同采样频率迹线。
7.根据权利要求1至5中任一项所述的触控单元的调整采样频率的扫描方法,其中所述依照被驱动的该第一轴方向迹线所对应的电容补偿值来决定其所对应的一采样频率的步骤包括:
设定一第二采样频率基准值,以对应多条第一轴方向的迹线所对应的电容补偿值中最低电容补偿值;以及
依据被驱动的该第一轴方向的迹线所对应的电容补偿值,设定其所对应的采样频率;其中各该第一轴方向的迹线依照其电容补偿值的大小由低至高,对应到以该第二采样频率基准值为基准由高至低递增的不同采样频率。
8.根据权利要求1至5中任一项所述的触控单元的调整采样频率的扫描方法,其中所述依照被驱动的该第一轴方向的迹线所对应的电容补偿值来决定其所对应的一采样频率的步骤包括:
设定一查找表,该查找表包括多个电容补偿值及与其对应的多个采样频率;及
依据被驱动的该第一轴方向的迹线所对应的电容补偿值,经由该查找表设定所对应的采样频率。
9.一种触控单元的调整采样频率的扫描方法,其中该触控单元包括多条第一轴方向的迹线及多条第二轴方向的迹线,该扫描方法的步骤包括:
预先扫描步骤,以至少获得各该第一轴方向的迹线所分别对应的电容补偿值;及
接续扫描步骤,包括:
依据各第一轴方向的迹线所对应的电容补偿值来决定其一驱动及采样频率;及
以各该第一轴方向的迹线所对应的驱动及采样频率来驱动并读取各该第一轴方向的迹线的感应值。
10.根据权利要求9所述的触控单元的调整采样频率的扫描方法,其中:
所述预先扫描步骤另获得各该第二轴方向的迹线所对应的电容补偿值;
所述接续扫描步骤进一步包括:
依据各第二轴方向的迹线所对应的电容补偿值来决定其一驱动及采样频率;及
以各该第二轴方向的迹线所对应的驱动及采样频率来驱动并读取各该第二轴方向的迹线的感应值。
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