[发明专利]彩膜基板的检测方法和检测装置有效

专利信息
申请号: 201310585128.4 申请日: 2013-11-19
公开(公告)号: CN103558702A 公开(公告)日: 2014-02-05
发明(设计)人: 张铁轶;余道平;侯玉珠;刘辉 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 彩膜基板 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种彩膜基板的检测方法,所述彩膜基板包括若干个子像素,任意两个颜色相同的、最接近的子像素的中心距离为Lμm,L>0,扫描所述彩膜基板的电荷耦合元件的像素的边长为βμm,0<β<L,其特征在于,当非整数时,所述彩膜基板的检测方法包括:

获取所述彩膜基板上的一个区域作为待检测区域,获取所述电荷耦合元件扫描到的待检测区域的灰度值;

在同一行或同一列中,获取第一灰度值和第二灰度值、第三灰度值和第四灰度值,其中,所述第一灰度值与所述待检测区域的灰度值相差个灰度值,所述第二灰度值与所述待检测区域的灰度值相差个灰度值,所述第三灰度值与所述第一灰度值或所述待检测区域的灰度值相差个灰度值,所述第四灰度值与所述第二灰度值或所述待检测区域的灰度值相差个灰度值;

根据所述第一灰度值和所述第二灰度值获得第一参考灰度值,根据所述第三灰度值和所述第四灰度值获得第二参考灰度值;

根据所述第一参考灰度值、所述第二参考灰度值判断所述待检测区域的灰度值是否正常。

2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,还包括:

在同一列或同一行中,获取第五灰度值和第六灰度值、第七灰度值和第八灰度值,其中,所述第五灰度值与所述待检测区域的灰度值相差个灰度值,所述第六灰度值与所述待检测区域的灰度值相差个灰度值,所述第七灰度值与所述第五灰度值或所述待检测区域的灰度值相差个灰度值,所述第八灰度值与所述第六灰度值或所述待检测区域的灰度值相差个灰度值;

根据所述第五灰度值和第六灰度值获得第三参考灰度值,根据所述第七灰度值和第八灰度值获得第四参考灰度值;

所述根据所述第一参考灰度值、所述第二参考灰度值判断所述待检测区域的灰度值是否正常包括:

根据所述第一参考灰度值、所述第二参考灰度值、所述第三参考灰度值和所述第四参考灰度值判断所述待检测区域的灰度值是否正常。

3.根据权利要求2所述的检测方法,其特征在于,根据所述第一灰度值和所述第二灰度值获得第一参考灰度值包括:

所述第一灰度值为α1,所述第二灰度值为α2,其中,α1、α2>0,所述第一参考灰度值为

根据所述第三灰度值和所述第四灰度值获得第二参考灰度值包括:

所述第三灰度值为α3,所述第四灰度值为α4,其中,α3、α4>0,所述第二参考灰度值为

根据所述第五灰度值和所述第六灰度值获得第三参考灰度值包括:

所述第五灰度值为α5,所述第六灰度值为α6,其中,α5、α6>0,所述第三参考灰度值为

根据所述第七灰度值和所述第八灰度值获得第四参考灰度值包括:

所述第七灰度值为α7,所述第八灰度值为α8,其中,α7、α8>0,所述第四参考灰度值为

4.根据权利要求2所述的检测方法,其特征在于,若所述待检测区域位于所述彩膜基板的角落,

所述第三灰度值与所述第一灰度值相差个灰度值,所述第四灰度值与所述第二灰度值相差个灰度值;

所述第七灰度值与所述第五灰度值相差个灰度值,所述第八灰度值与所述第六灰度值相差个灰度值。

5.根据权利要求2所述的检测方法,其特征在于,若所述待检测区域位于所述彩膜基板的边缘,

所述第三灰度值与所述第一灰度值相差个灰度值,所述第四灰度值与所述第二灰度值相差个灰度值,或,

所述第三灰度值与所述待检测区域的灰度值相差个灰度值,所述第四灰度值与所述待检测区域的灰度值相差个灰度值;

所述第七灰度值与所述第五灰度值相差个灰度值,所述第八灰度值与所述第六灰度值相差个灰度值,或,

所述第七灰度值与所述待检测区域的灰度值相差个灰度值,所述第八灰度值与所述待检测区域的灰度值相差个灰度值。

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