[发明专利]测试和测量仪器以及用于在测试和测量仪器上的模板触发的方法有效

专利信息
申请号: 201310584914.2 申请日: 2013-11-20
公开(公告)号: CN103837725B 公开(公告)日: 2018-09-07
发明(设计)人: K.P.多比恩斯;G.J.沃尔多 申请(专利权)人: 特克特朗尼克公司
主分类号: G01R13/02 分类号: G01R13/02;G01R23/00;G01R31/00;G01R31/3177
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 马红梅;王忠忠
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 时域 域中 组合 模板 触发
【权利要求书】:

1.一种用于在测试和测量仪器上的模板触发的方法,所述方法包括:

接收和数字化测试下的电信号,以使得产生数字数据;

实时确定数字数据的第一分量与第一触发模板有第一预定义的关系;

确定数字数据的第二分量在第一分量被确定为与第一触发模板有预定义的关系之后的预定义时间段内与第二触发模板有第二预定义的关系;

响应于确定第二分量在所述预定义时间段内与第二触发模板有第二预定义的关系,生成触发信号;以及

响应于所述触发信号将数字数据存储在存储器中。

2.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:

将数字数据的表示显示为频域、时域或二者中的描迹。

3.根据权利要求1所述的方法,其中:

确定第一分量与第一触发模板有第一预定义的关系基于第一分量是否在长于或等于预定义的时间阈值的时间段内与第一触发模板有第一预定义的关系。

4.根据权利要求1所述的方法,其中:

确定第一分量与第一触发模板有第一预定义的关系基于第一分量是否在长于或等于预定义的时间阈值的时间段内在第一触发模板内滞留。

5.根据权利要求1所述的方法,其中:

确定第一分量与第一触发模板有第一预定义的关系基于第一分量是否在短于或等于预定义的时间阈值的时间段内与第一触发模板有第一预定义的关系。

6.根据权利要求1所述的方法,其中:

确定第一分量与第一触发模板有第一预定义的关系基于第一分量是否在短于或等于预定义的时间阈值的时间段内在第一触发模板内滞留。

7.根据权利要求1所述的方法,其中:

确定第二分量与第二触发模板有第二预定义的关系基于第二分量是否在所述预定义时间段内在第二触发模板内滞留。

8.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:

确定第一分量违反第一触发模板;

响应于确定第一分量违反第一触发模板而配备与第二触发模板关联的触发准则;

根据触发准则来确定第二分量违反第二触发模板;以及

响应于确定第二分量违反第二触发模板而生成触发信号。

9.根据权利要求8所述的方法,其中根据触发准则来确定第二分量违反第二触发模板基于第二分量的密度在配备触发准则之后的预定义时间段内达到或超过预定义的密度阈值。

10.一种测试和测量仪器,包括:

输入,被配置成接收并数字化测试下的电信号以产生数字数据;

存储器,耦合到所述输入;

模板触发逻辑,耦合到所述输入和所述存储器,且被配置成:

确定数字数据的第一分量与第一触发模板有第一预定义的关系;

确定数字数据的第二分量在第一分量被确定为与第一触发模板有预定义的关系之后的预定义时间段内与第二触发模板有第二预定义的关系;

响应于确定第二分量在所述预定义时间段内与第二触发模板有第二预定义的关系,生成触发信号;以及

响应于所述触发信号将数字数据存储在存储器中。

11.根据权利要求10所述的测试和测量仪器,进一步包括显示设备,所述显示设备被配置成在频域或时域中显示数字数据的表示。

12.根据权利要求10所述的测试和测量仪器,其中确定第一分量与第一触发模板有第一预定义的关系基于第一分量是否在长于或等于预定义的时间阈值的时间段内有第一预定义的关系。

13.根据权利要求12所述的测试和测量仪器,其中确定第一分量与第一触发模板有第一预定义的关系进一步基于第一分量是否在所述时间段内在触发模板内滞留。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于特克特朗尼克公司,未经特克特朗尼克公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310584914.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top