[发明专利]数据储存装置及其制作与控制方法在审

专利信息
申请号: 201310578682.X 申请日: 2013-11-18
公开(公告)号: CN104103315A 公开(公告)日: 2014-10-15
发明(设计)人: 洪希贤;朴应俊 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: G11C16/14 分类号: G11C16/14
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 汤在彦
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 数据 储存 装置 及其 制作 控制 方法
【说明书】:

技术领域

发明是有关于数据储存装置,且特别有关于快闪存储器技术的数据储存装置及其制作与控制方法。

背景技术

快闪存储器为常见的非挥发性储存媒体,且主要用来实现数据储存装置,如,存储卡、通用串行总线快闪存储器装置、固态硬盘等。

传统快闪存储器包括多个存储器区块(blocks)。一物理区块(physical block)中的所有存储单元设置在一井结构(well)中,共享井控制信号。各物理区块有专用的多条位线(bit lines)以及字线(word lines)。各存储单元坐落在位线与字线交错处,以进行编址。存储器密度越高,对应的阵列解码器会占据整体芯片更高比例的空间。降低阵列解码器所占空间的一方式是提升物理区块尺寸,以求减少解码器数量。然而,以上方式涉及多种技术问题,包括:次区块(sub-block)抹除时间会增加;各物理区块内的存储单元均一性不易控制;且解码器内部布局拥挤。此外,写入与抹除干扰(program/erase disturbance)也是电路设计中需考量的问题。

发明内容

本发明揭露一种数据储存装置、以及该种类数据储存装置的制作以及控制方法,用于解决在进行抹除步骤时,次区块会被目标次区块所干扰的问题。

根据本发明一种实施方式所实现的数据储存装置包括一第一次区块、一第二次区块、一第一井开关、一第二井开关以及一第一字线群。该第一井开关用于传递一第一井偏压作该第一次区块的偏压。该第二井开关用以传递一第二井偏压作该第二次区块的偏压。该第一次区块以及该第二次区块共同由该第一字线群控制。

本发明一种实施方式所揭露的数据储存装置制作方法包括以下步骤:于一第一井结构制作一第一次区块;于有别于该第一井结构的一第二井结构制作一第二次区块;制作一第一井开关,用以传递一第一井偏压作该第一次区块的偏压;制作一第二井开关,用以传递一第二井偏压作该第二次区块的偏压;以及,制作一第一字线群。该第一次区块以及该第二次区块共同由该第一字线群控制。

根据本发明一种实施方式,一数据储存装置控制方法包括以下步骤:在对一数据储存装置内的一第一次区块执行一抹除步骤时,以一抹除用栅极电位控制一第一字线群,且以一抹除用井电位控制一第一井偏压,其中,该第一次区块是由该第一字线群控制且由该第一井偏压作偏压;且,在对该第一次区块执行该抹除步骤时,还以一抹除保护电位控制一第二井偏压。该第二井偏压用于偏压该数据储存装置内的一第二次区块,并且,该第二次区块与该第一次区块共同由该第一字线群控制。

就采用相同尺寸位元解码器的相同尺寸存储器来说,相较于传统井结构,本案所揭露的井结构在进行抹除操作时只有少量的次区块受到干扰。因此,本发明所揭露技术可有效降低前程序化、抹除以及后程序化步骤中所干扰的次区块数量,并进一步减少重刷新程序化步骤修复受干扰次区块的时间。

下文特举实施例,并配合所附图示,详细说明本发明内容。

附图说明

图1图解根据本发明一种实施方式所实现的一数据储存装置100;

图2为根据本发明的存储器次区块的抹除操作的流程图;

图3为依照图2所示的抹除步骤S204操作的数据储存装置100的操作状态示意图;

图4为依照图2所示的前程序化步骤S202操作的数据储存装置100的操作状态示意图;且

图5为依照第2图所示的后程序化步骤S206操作的数据储存装置100的操作状态示意图。

符号说明:

100~数据储存装置;

102~字线解码器;

104~位线解码器;

302、304、306、308~抹除步骤下,不同存储单元的受压状况;

402、404~前程序化步骤下,不同存储单元的受压状况;

502、504~后程序化步骤下,不同存储单元的受压状况;

BL1、BL2~位线群;

Sub_Block_11…Sub_Block_24~次区块;

S202…S208~步骤;

Vwell_1、Vwell_2~井偏压;

Well_1、Well_2~井结构;

Well_Switch_1、Well_Switch_2~井开关;

WL1…WL4~字线群。

具体实施方式

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