[发明专利]一种基于CAD蒙特卡洛分析的电路成品率估算方法

权利要求书

1.一种基于计算机辅助设计蒙特卡洛分析的电路成品率估算方法，其特征在于，该电路成品率估算方法包括：

步骤一，确定所分析电子电路的拓扑结构、电路的性能参数指标范围、关键元件参数及元件参数的统计分布规律；

步骤二，利用试验设计方法，在电路元件变化空间范围内建立电路性能参数与元件参数标称值之间的代理模型来近似电路；

步骤三，依据电路元件参数分布规律，产生电路蒙特卡洛分析的随机抽样组合序列；

步骤四，利用电路性能参数的代理模型对随机抽样组合序列进行预测，得到电路性能参数预测值及其置信区间；

步骤五，将基于代理模型得到的电路性能参数预测值的置信区间与性能参数指标规范进行比较，对可能存在较大预测误差的电路性能参数预测值进行修正计算；

步骤六，按照步骤五得到的性能参数预测值或电路仿真值，代入性能参数指标规范进行统计分析，计算电路性能参数的设计成品率。

2.如权利要求1所述的电路成品率估算方法，其特征在于，步骤二中，利用试验设计方法，在电路元件变化空间范围内建立电路性能参数与元件参数标称值之间的近似模型来近似电路时，可采用充满空间的统计抽样与Kriging建模方法建立电路的Kriging模型。

3.如权利要求1所述的电路成品率估算方法，其特征在于，步骤三中，依据电路元件参数分布规律，产生电路蒙特卡洛分析的随机抽样组合序列X，形式如下：

X=[ξ₁  ξ₂  …  ξ_m]

其中m等于蒙特卡罗抽样次数，ξ_i为n维列向量，值为元件参数值。

4.如权利要求1所述的电路成品率估算方法，其特征在于，步骤四中，利用电路性能参数的代理模型F=f(x)对随机抽样组合序列X进行预测，得到基于代理模型计算得到电路性能参数值Y，形式如下：

Y=[y₁  y₂  …  y_m]^T=f(ξ₁  ξ₂  …  ξ_m)

以及每个性能参数预测值的置信区间范围：

Low=[low₁  low₂  …  low_m]^T

Up=[up₁  up₂  …  up_m]^T

其中Low表示置信区间下限，Up表示置信区间上限。

5.如权利要求1所述的电路成品率估算方法，其特征在于，步骤五中，将基于代理模型得到电路性能参数值的置信区间与性能参数指标规范进行比较，对电路性能参数值进行修正计算时，如果参数指标范围[low,up]不完全包含参数值的置信区间，如下式

(low_i<low<up_i)or(low_i<up<up_i)

那么需要将ξ_i代入电路仿真中重新计算y_i替代Kriging元模型对应的预测值y_i，并保存到Y中；如果参数指标范围[low,up]完全包含参数值的置信区间，或者完全不包含[low_i,up_i]，如下式：

(low<low_i<up<up_i)or(up_i<low)or(up<low_i)

那么以[low_i,up_i]对应的y_i作为计算成品率的参数性能值。

6.如权利要求1所述的电路成品率估算方法，其特征在于，步骤六中，按照步骤五得到的性能参数，代入性能参数指标规范范围进行统计分析，计算电路性能参数的成品率时，即按照步骤五得到的性能参数Y，代入性能参数指标规范范围[low,up]统计分析，计算电路性能参数的成品率。