[发明专利]触发式传感器轴向触发行程的检定方法及检定辅具

权利要求书

1.触发式传感器轴向触发行程的检定方法，其特征在于，使用装有圆锥的检定辅具，触测圆锥的任意被测截圆上沿圆周均匀分布的若干个点，用最小二乘拟合圆法处理各测点坐标值，得截圆的直径；然后测量被测截圆与顶圆或底圆之间的轴向距离；结合触发式传感器测头探针半径对测量的影响，算出触发式传感器轴向触发行程。

2.如权利要求1所述的触发式传感器轴向触发行程的检定方法，其特征在于，具体包括以下步骤：

第一步：将检定体放置在数控机床工作台上，保证触发式传感器在其行程范围内能够安全可靠、无干涉的触测检定体；

第二步：调节触发式传感器在X轴、Y轴及Z轴位置，将触发式传感器探针测球定位在待测圆锥某圆周处；

第三步，沿X轴或Y轴方向调节触发式传感器，对待测圆锥进行试触测，并记录Z轴坐标Z₁；

第四步：相对于第三步的X轴或Y轴方向，反向调节触发式传感器，保证触发式传感器探针测球与检定辅具之间有一安全距离；

第五步：调节数控系统进入自动模式，通过X轴、Y轴插补运动，在第二步中的截圆周上均匀触测若干个测点，数控系统自动记录每个测点的位置坐标（X_i、Y_i）；

第六步：调节触发式传感器在X轴、Y轴及Z轴位置，使得触发式传感器探针测球最低点高于圆锥顶圆，并保持一定的距离；

第七步：沿X轴或Y轴方向调节触发式传感器，使得触发式传感器探针测球处在锥台顶圆触测范围之内；

第八步：调节数控系统进入自动模式，数控程序控制Z轴向下运动触测锥台顶圆，并记录传感器触发时Z轴的坐标Z₂。

第九步：应用最小二乘拟合圆法对第五步中所记录的每个测点的位置坐标（X_i、Y_i）进行处理，计算被测截圆的直径d_x；则触发式传感器轴向触发行程τ为：

τ={[(dx-r/cosα/2)-d]/C}-[(Z2-b)-Z1]]]>

式中，d为圆锥顶圆直径；C为圆锥锥度；α为圆锥的锥顶角；r为传感器探针测球半径；b为探针测球公称半径；Z₂为测量所得锥顶处的位置坐标；Z₁为测量所得的被测截圆的Z向位置坐标。

3.如权利要求1或2所述的触发式传感器轴向触发行程的检定方法的检定辅具，其特征在于，包括磁力底座（11）和设置在磁力底座（11）上的固定块（10），所述固定块（10）通过加长杆（9）与圆锥（8）连接。

4.如权利要求3所述的检定辅具，其特征在于，所述固定块（10）成90°的顶面和侧面分别设有与加长杆（9）连接的螺纹孔A和螺纹孔B。