[发明专利]一种用于电子测量仪器的下变频器及下变频方法

说明书

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别涉及一种用于电子测量仪器的下变频器，还涉及一种用于电子测量仪器的下变频方法。

背景技术

现代雷达和无线电通信等技术的发展，各种电子设备对系统测试不断提出更高的要求，其中重要的一点就是电子测量仪器的本振要有很低的单边带相位噪声。为了得到较低的相位噪声，目前电子测试仪器的本振信号是由频率合成方式得到。比较通用的方法是由宽带VCO(压控振荡器)或YTO(YIG调谐振荡器)锁定在高稳定度和高分辨率的参考信号上。由于YTO输出的信号为宽带微波信号，如3-10GHz，而参考信号的频率一般为100MHz左右的射频信号，需要将YTO反馈回来的信号进行下变频后得到鉴相中频信号，中频信号与参考信号进行鉴相从而使YTO锁定。如何将宽带的微波信号下变频到中频信号，是非常重要的技术。目前最通用的方法是采用取样变频技术，用低相位噪声的一个本振信号，将宽带微波信号取样得到中频信号，取样过程也就是谐波混频的过程，本振信号的高次谐波与微波信号混频，得到中频信号。

如图1所示，现有的取样下变频器应用电路中，压控振荡器13一般为微波宽带VCO或YTO，输出宽带微波信号。小步进本振信号为射频信号，在取样下变频器14中对宽带微波信号进行取样，得到小步进的中频信号。取样下变频器14的工作原理是将射频本振信号经过SRD(阶跃恢复二极管)产生梳状波，梳状波频率范围覆盖宽带微波，压控振荡器13输出微波与梳状波中频率最接近的本振某次谐波混频，产生的中频信号经低通滤波后进入鉴相器11与高分辨率参考信号鉴相，使压控振荡器13锁定。

采用取样变频技术的下变频器虽然可以采用较低频率的本振信号实现宽带微波信号的下变频，但是中频信号的单边带相位噪声却受到取样下变频器工作原理的限制，不能达到很高的水平。因为取样变频采用的谐波混频技术，微波信号跟射频本振的高次谐波进行混频，受到倍频功率损耗的影响，射频本振高次谐波的功率受到限制，功率很小时较好的相位噪声会湮没在热噪底中，使噪声恶化。所以取样下变频器只能用于对相位噪声要求不是特别高的仪器中，如果对本振的相位噪声要求再高时，取样下变频器就不能满足要求了。

发明内容

为解决现有技术的不足，本发明提出了一种用于电子测量仪器的下变频器和下变频方法。

本发明的技术方案是这样实现的：

一种用于电子测量仪器的下变频器，包括：第一混频器、第一低通滤波器、分频器、第一鉴相器、第一积分器、第一压控振荡器、第二混频器和第二低通滤波器；

所述第一混频器接收大步进微波本振信号和锁相环反馈信号，混频后输出中频信号，所述中频信号经第一低通滤波器滤波后与参考信号在第一鉴相器中鉴相，第一低通滤波器和第一鉴相器之间还设置有分频器，第一鉴相器输出的鉴相误差信号经第一积分器进行积分滤波，生成第一压控振荡器的调谐误差控制信号，控制第一压控振荡器的输出信号并使其锁定，第一压控振荡器的输出信号耦接到第一混频器和第二混频器，第二混频器将第一压控振荡器的输出信号和宽带微波信号混频，混频后的输出信号经第二低通滤波器滤波后与高分辨率参考信号进行鉴相。

可选地，所述大步进微波本振信号为3.2～10GHz，步进0.8Hz，所述分频器为3分频器。

可选地，所述第一压控振荡器为5-10GHz压控振荡器，第一压控振荡器和第二混频器之间还设置有二分频器。

本发明还提供了一种用于电子测量仪器的下变频方法，包括以下步骤：

步骤(a)，将大步进微波本振信号与锁相环反馈信号进行混频，输出中频信号；

步骤(b)，将所述中频信号低通滤波；

步骤(c)，低通滤波后的中频信号与参考信号进行鉴相，输出鉴相误差信号；

步骤(d)，将鉴相误差信号进行积分滤波，生成调谐误差控制信号，控制压控振荡器的输出信号并使其锁定；

步骤(e)，压控振荡器的输出信号分为两路，一路作为锁相环反馈信号与所述大步进微波本振信号进行混频，另一路与宽带微波信号进行混频；

步骤(f)，将压控振荡器输出信号与宽带微波信号混频后的输出信号与高分辨率参考信号进行鉴相。

可选地，所述步骤(c)中，还包括对低通滤波后的中频信号进行分频的步骤，分频后的中频信号与参考信号进行鉴相。