[发明专利]一种测试LED芯片散热的实验装置

说明书

技术领域

本发明LED散热技术领域，具体涉及一种测试LED芯片散热的实验装置。

背景技术

在现代快速发展的LED照明中，由于LED灯的节能，长寿命和易维护等特点受到人们的青睐。LED照明越来越多的将应用于生产和生活的各个部分，但是目前的技术，还有一定的局限性，主要在LED灯具的寿命以及光效的保持方面会出现巨大的挑战。LED照明灯具的寿命取决于散热、电源技术和灯珠技术，目前得到广泛解决的是灯珠技术和电源技术，灯珠的寿命可以达到2-3万小时的寿命，电源也可以达到1.5-5万小时的寿命，灯珠的寿命直接取决于LED灯具的散热技术。由于散热装置的体积的影响，使得LED灯广泛使用受到很大的限制，因此需要对LED进行改进，以便让LED成为零售业、居住和室外照明应用的主要选择。

发明内容

本发明针对以上技术存在的问题，提出一种测试LED芯片散热的实验装置，通过该系统可以对LED芯片工作温度进行测量，该实验系统结构简单，安装操作方便，对LED芯片可以进行主动散热和自然散热的实验测试。

本发明提出的一种测试LED芯片散热的实验装置，主要由可调支架、隔热材料、待测LED芯片、散热器、电源、温度测量仪组成。

所述可调支架由固定底座、支撑杆和高度调节杆组成；

所述电源模块为LED芯片、风扇等主动散热装置提供工作电压；

所述隔热材料安装在可调支架的固定底座上，隔热材料的上方安装待测LED芯片；

所述散热器安装在待测LED芯片的上方。

电源和温度测量仪安装在固定底座上。

电源为待测LED芯片提供工作电压，通过隔热材料对待测LED芯片进行隔热，通过散热器对待测LED芯片进行散热，使用温度测量仪对待测LED芯片的温度进行测量。

采用风扇等主动散热装置进行散热时，将风扇等装置安装在高度调节杆上，通过电源为风扇等装置提供工作电压，使用温度测量仪对LED芯片的温度进行测量。

附图说明

附图为本发明的装置结构示意图。

附图标记说明:

1—固定底座      2—支撑杆          3—高度调节杆

4—隔热材料      5—待测LED芯片     6—散热器

7—电源          8—温度测量仪

具体实施方式

如附图所示，本发明提供的一种测试LED芯片散热的实验装置，主要由可调支架、隔热材料4、待测LED芯片5、散热器6、电源7、温度测量仪8组成。

所述可调支架由固定底座1、支撑杆2和高度调节杆3组成；

所述隔热材料4安装在可调支架的固定底座1上，隔热材料4的上方安装待测LED芯片5；

所述散热器6安装在待测LED芯片5的上方；

电源7和温度测量仪8安装在固定底座1上。

所述电源7为待测LED芯片5、风扇等主动散热装置提供工作电压；所述温度测量仪8对LED芯片进行温度测量。

本发明的具体实施方式如下：电源7为待测LED芯片5提供工作电压，通过隔热材料4对待测LED芯片5进行隔热，通过散热器6对待测LED芯片5进行散热，使用温度测量仪8对待测LED芯片5的温度进行测量。

采用风扇等主动散热装置进行散热时，将风扇等装置安装在高度调节杆3上，通过电源7为风扇等装置提供工作电压，使用温度测量仪8对LED芯片的温度进行测量。

本发明结构简单，对LED芯片的不同散热方式可以进行选择，安装操作方便。