[发明专利]DRC文件的坐标数据对比方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及DRC（Design Rule Check，设计规则检查）文件的开发，具体地说是一种不同版本DRC文件的坐标数据对比方法。

背景技术

DRC文件是半导体设计生产中不可或缺的文件，开发不同工具或者不同版本DRC文件时，二者之间对比一直是通过人工手动方式对比，而坐标数据成千上万，基本无法全部逐点对比，最终根本不能保证不同工具之间的统一性以及不同版本之间的继承性。

中国专利（公开号：CN102129483A）公开了一种版图验证规则文件测试向量的自动生成方法，是集成电路辅助设计软件工具中版图验证（DRC）中的一种优化方法。为了保证版图验证规则文件的正确性，通用的方法是：根据规则文件的描述，由人工构造多个测试向量，然后分析测试向量的计算结果是否与预期一致。人工构造测试用例的方法有两个显著缺点，首先，该方法工作量很大，效率低。其次，人工构造向量用例难以保证测试的全面性。为了克服人工构造测试向量的缺陷，该发明提出了一种测试向量的自动生成方法，该方法由计算机程序自动生成覆盖全面的测试向量，可以在很短的时间内完成测试向量的生成，大大提高了开发效率，保证了规则文件的正确性。

中国专利（公开号：CN101162477A）公开了一种验证DRC配置文件的方法，包括步骤：设计两组图形，一组为正确图形，另一组为错误图形；用DRC配置文件分别检查正确图形和错误图形，如果检查正确图形没有错误，且检查错误图形有相应错误，说明DRC配置文件正确，否则说明DRC配置文件有错误，需修改。该发明的验证DRC配置文件的方法，能确保DRC配置文件的正确，保证版图设计规则检查的准确性，为芯片成功流片提供有力保障。

上述两个专利虽然公开了能够提高DRC文件的开发效率以及正确配置DRC文件保证设计规则检查准确性的方法，但与本发明采用的技术手段是完全不同的，其也并未解决无法保证不同工具DRC文件之间的统一性以及不同版本DRC文件之间的继承性的问题。

发明内容

针对上述存在的问题，本发明公开一种DRC文件的坐标数据对比方法，解决了无法保证不同工具DRC文件之间的统一性以及不同版本DRC文件之间的继承性的问题。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种DRC文件的坐标数据对比方法，其中，采用如下步骤：

步骤S1，设计一组存在设计规则错误的版图，将所述版图采用第一版本DRC文件进行检查，将检查后的所述版图中的错误图形的错误坐标数据保存到第一数据库中；

步骤S2，将所述版图采用第二版本DRC文件进行检查，将检查后的所述版图中的错误图形的错误坐标数据保存到第二数据库中；

步骤S3，设定错误坐标数据对比规则，根据所述错误坐标数据对比规则对比所述第一数据库中的错误坐标数据和所述第二数据库中的错误坐标数据，以得到对比结果。

上述的DRC文件的坐标数据对比方法，其中，在所述步骤S3中，根据所述错误坐标数据对比规则对比所述第一数据库中的错误坐标数据和所述第二数据库中的错误坐标数据，包括依次对所述版图中的每一处错误图形对应的所述第一数据库中的错误坐标数据和所述第二数据库中的错误坐标数据进行对比。

上述的DRC文件的坐标数据对比方法，其中，所述错误坐标数据对比规则为：

对比所述第一数据库中的错误坐标数据的错误类型和所述第二数据库中的错误坐标数据的错误类型；以及对比所述第一数据库中的错误坐标数据的坐标位置和所述第二数据库中的错误坐标数据的坐标位置；

若所述第一数据库中的错误坐标数据的错误类型和所述第二数据库中的错误坐标数据的错误类型相同，且所述第一数据库中的错误坐标数据的坐标位置和所述第二数据库中的错误坐标数据的坐标位置相同，则所述对比结果为所述第一数据库中的错误坐标数据和所述第二数据库中的错误坐标数据相同；

若所述第一数据库中的错误坐标数据的错误类型和所述第二数据库中的错误坐标数据的错误类型相同，且所述第一数据库中的错误坐标数据的坐标位置和所述第二数据库中的错误坐标数据的坐标位置不相同，则所述第二数据库中的错误坐标数据的坐标位置缺失，所述对比结果为缺失的所述第二数据库中的错误坐标数据的坐标位置；