[发明专利]一种统计分析方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种统计分析方法。

背景技术

学校的统计分析，是通过考评表在考评结束后对被统计、分析以及导出Excel表格、打印成标准的A4格式的文件和形成各种图表，图标的种类不少于5种，如折线图、柱形图、立体图、饼形图、雷达图等。然后基于人的查阅，直观评定。这样做非常不公平。如果不对获得的数据进行整理、分析，揭示出蕴含在数据中的问题。使得分析工作变得不公平。因而一种统计分析方法急需被研制。

发明内容

本发明针对以上问题的提出，而研制一种统计分析方法。本发明采用的技术方案如下：

一种统计分析方法，其特征在于包括：

单次考评分析方法，在一次考评中，显示多个被考评单位的得分对比图；

历次考评分析方法，统计一个单位在多次考评中的得分走势图；

正态分布分析方法，依据正态分布的数学模型所得到的专业统计分析图；

线性回归分析方法，通过对被考评单位的考评结果与该单位的自评结果作出的一条回归曲线；

分布状况分析方法，以离散点的方式标明在一个或多个得分区域中的分布状况；

得分比率分析方法，依据得分比率算法，计算出得分比率。

还包括自定义分析方法，用户能够自由输入数学模型和算法，自定义出符合自己需要的统计分析模型并使用。

这种方法通过完成大量的数据统计工作，从而使评价人员最终理顺数据间的分布状态、数据的特征和变化规律、数据间的关系。

具体实施方式

该统计分析方法包括：单次考评分析方法，在一次考评中，显示多个被考评单位的得分对比图。所谓“得分”可以是总分，也可以是分项得分。历次考评分析方法，统计一个单位在多次考评中的得分走势图。同样，系统允许查看总分走势，也可以查看分项得分走势。正态分布分析方法，依据正态分布的数学模型所得到的专业统计分析图。标准的正态分布曲线应该是一个抛物线，这个抛物线的偏差越大，说明被考评的单位的缺陷也就越大。线性回归分析方法，通过对被考评单位的考评结果与该单位的自评结果作出的一条回归曲线。通过这条曲线，能明确分析出被考评单位的自我认知与他方认知的偏离程度。分布状况分析方法，以离散点的方式标明在一个或多个得分区域中的分布状况。得分比率分析方法，依据得分比率算法，计算出得分比率。还包括自定义分析方法，用户能够自由输入数学模型和算法，自定义出符合自己需要的统计分析模型并使用。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。