[发明专利]触控检测方法及触控检测系统在审
申请号: | 201310544374.5 | 申请日: | 2013-11-06 |
公开(公告)号: | CN104635996A | 公开(公告)日: | 2015-05-20 |
发明(设计)人: | 戈卡尔普.贝拉墨戈鲁;朱浚斈;王燕儒;杨贵宝;王玉燕 | 申请(专利权)人: | 宸鸿科技(厦门)有限公司 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 361009 福建省厦门市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 方法 系统 | ||
1.一种触控检测系统,包括:
一触控基板,具有一上表面,该上表面中界定有一检测区域;以及
一第一红外线传感器数组,配置在该触控基板的该上表面上且位于该检测区域外的第一侧。
2.如权利要求1所述的触控检测系统,其特征在于,该第一红外线传感器数组在该上表面的法线方向上的高度为0.1mm至1mm。
3.如权利要求1所述的触控检测系统,其特征在于,该第一红外线传感器数组包括:
复数红外线感测单元,其中该复数红外线感测单元为热敏电阻型(tmermistor type)、热释电型(pyroelectric type)、热电堆型(thermopile type)、双材料悬臂梁型(bimaterial cantilever type)、或二极管型红外线感测组件。
4.一种触控检测方法,用以对如权利要求1至权利要求3任一项所述的触控检测系统进行触控检测,其特征在于,包括:
将该第一红外线传感器数组在该触控基板的该上表面上的一延伸方向定义为一第一方向,将该触控基板的该上表面的法线方向定义为第二方向;
对该第一红外线传感器数组所检测的一第一2维强度信号进行该第二方向的平均,获得一沿着该第一方向强度变化的第一1维强度信号;
对该第一1维强度信号进行该第一方向的平均,获得一第一背景参考值;
找出该第一1维强度信号的波段中大于该第一背景参考值的至少一第一区段;
判断该第一区段的宽度是否大于一既定的手指宽度
若该第一区段的宽度大于该既定的手指宽度,则计算该第一区段内的重心点,获得至少一平行于该第一方向上的触控位置;以及
若该第一区段的宽度不大于手指的宽度,则判断非触控接触。
5.如权利要求4所述的触控检测方法,其特征在于,更包括:
配置一第二红外线传感器数组于该检测区域外的第二侧,其中该第一侧与该第二侧相邻。
6.如权利要求5所述的触控检测方法,其特征在于,更包括:
将该第二红外线传感器数组在该触控基板的该上表面上的一延伸方向定义为第三方向;
对该第二红外线传感器数组所检测的一第二2维强度信号进行该第三方向的平均,获得一沿着该第二方向强度变化的一第二1维强度信号;
对该第二1维强度信号进行该第三方向的平均,获得一第二背景参考值;
找出该第二1维强度信号的波段中大于该第二背景参考值的至少一第二区段;
判断该第二区段的宽度是否大于手指的宽度,若是,则计算该第二区段内的重心点,获得至少一平行于该第三方向上的触控位置。
7.如权利要求6所述的触控检测方法,其特征在于,该第一方向与该第三方向的夹角为0°至90°。
8.如权利要求7所述的触控检测方法,其特征在于,该检测区域为矩形,该触控检测方法更包括:
配置一第三红外线传感器数组于该检测区域外的第三侧,且沿着该第一方向延伸;以及
配置一第四红外线传感器数组于该检测区域外的第四侧,且沿着该第三方向延伸。
9.如权利要求8所述的触控检测方法,其特征在于,该第三红外线传感器数组进行与该第一红外线传感器数组相同的方式的触控位置检测,且对该第四红外线传感器数组进行与该第二红外线传感器数组相同方式的触控位置检测,该触控检测方法更包括:
将该第一红外线传感器数组与该第三红外线传感器数组中相对应的触控位置进行平均,获得至少一平行于该第一方向的第一触控位置;以及
将该第二红外线传感器数组与该第四红外线传感器数组中相对应的触控位置进行平均,获得至少一平行于该第三方向的第二触控位置。
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