[发明专利]一种检测余氯的方法无效

专利信息
申请号: 201310538175.3 申请日: 2013-11-04
公开(公告)号: CN103616373A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 聂富强;荣吉赞 申请(专利权)人: 苏州汶颢芯片科技有限公司;聂富强
主分类号: G01N21/78 分类号: G01N21/78;G01N21/31
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215028 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 余氯 方法
【权利要求书】:

1.一种检测余氯的方法,其特征在于利用外部驱动作用力,将含有余氯的样品与一定pH值的显色试剂,利用混合检测用微流控芯片做载体进行混合显色操作,通过分光光度法来进行混合显色后样品中余氯含量的检测。

2.根据权利要求1所述的一种检测余氯的方法,其特征在于所述的外部驱动作用力由微量注射泵,或蠕动泵,或微型隔膜泵提供驱动力。

3.根据权利要求1所述的一种检测余氯的方法,其特征在于所述的混合检测用微流控芯片至少包含两个试剂进样口、一个样品进样口、一个缓冲池、一个样品检测池、一个废液口,和混合微通道。

4.根据权利要求1所述的一种检测余氯的方法,其特征在于所述的混合检测用微流控芯片的混合微通道内含有促进液体混合的微块体阵列单元,所述的微块体阵列单元的典型结构是至少两个并排的、有统一长度和角度的、具有倒角形式的长方体结构,所述的微块体阵列单元规律地分布在微流体通道的两侧边缘。

5.根据权利要求1所述的一种检测余氯的方法,其特征在于所述的检测余氯的方法中使用的显色试剂为DPD( N,N-二乙基-1,4-苯二胺)溶液。

6.根据权利要求1所述的一种检测余氯的方法,其特征在于所述的分光光度法检测通过组装的光学检测系统实现检测。

7.根据权利要求6所述的一种检测余氯的方法,其特征在于所述的组装光学检测系统内包括光源,光纤,准直透镜,芯片样品检测池,自聚焦透镜,光电二极管阵列光谱仪,计算机各部分。

8.根据权利要求6所述的一种检测余氯的方法,其特征在于所述的组装光学检测系统内光源发出的光依次通过光纤,准直透镜,芯片样品检测池,自聚焦透镜进行传输,所述的光电二极管阵列光谱仪用于透过芯片样品检测池的光强检测,所述的计算机用于检测信号数据的处理。

9.根据权利要求6所述的一种检测余氯的方法,其特征在于所述的组装光学检测系统内的光源为LED光源,典型光源的波长范围是500nm~570nm。

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