[发明专利]孔斜度测量机构及斜孔测量方法在审

专利信息
申请号: 201310522822.1 申请日: 2013-10-30
公开(公告)号: CN103542833A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 纪晓盼;李荣强 申请(专利权)人: 沈阳航天新乐有限责任公司
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22
代理公司: 沈阳杰克知识产权代理有限公司 21207 代理人: 杨华
地址: 110034 *** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 斜度 测量 机构 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明创造涉及一种孔斜度测量机构及斜孔测量方法,是针对产品中的尺寸精度是否合格的测量装置。 

背景技术

随着科学的不断进步,零件形状的多样化正逐步的由数控加工等方式所完成,但是为了检验这些复杂零件,必须有先进的检验设备和检验方法。如图1所示,为尾翼座零件,其外表面设有圆周均布的肋台,肋台上设有两个纵向的开口,肋台的横向上设有具有微小倾角的通孔,该通孔的角度是零件中较重要的结构之一,但该斜孔对应基准面难以找到,斜度难以测量,其测量难度大,通过手工测量,误差大,费时、费力。 

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种孔斜度测量机构及斜孔测量方法,该孔斜度测量机构能够准确的将尾翼座定位到待测量位置,并且实现了测量仪表的准确放置和测量方式的稳定有效,测量方法的方便快捷,从而实现了对产品相应位置精度的准确有效检测。 

为解决以上问题,本发明创造的具体技术方案如下:一种孔斜度测量机构,在支座上设有定位机构,在定位机构的前方两端分别设有限位块,在两个限位块之间设有表架,测量仪表通过弹簧套贯穿于表架的上端;在测量仪表的测量针下方设有限位轴,限位轴的轴线位于待测尾翼座肋台的开口处。 

一种孔斜度测量机构对斜孔的测量方法,包括以下步骤: 

1)将待测零件固定在定位机构上,将与待测斜孔直径相等的测量销插入到待测斜孔内,测量销的两端分别从待测零件肋台两侧伸出;

2)调节待测零件,将测量销的外圆面顶到限位轴的上方;

3)将表架的一侧顶到其中一个限位块的端面,将测量仪表向下压,使表针顶到测量销的一端的高度,并记录表针的数值A;

4)将表架的另一侧顶到另一个限位块的端面,将测量仪表向下压,使表针顶到测量销的另一端的高度,并记录表针的数值B;

5)通过数值A与数值B得出高度差,如果高度差在允许范围内,该工件斜孔角度合格,反之不合格。

该孔斜度测量机构采用上述结构,可以通过定位机构将零件准确定位,并通过固定的限位轴进行定点,从而保证高度差的测量精度。同时通过该方法,提高了测量的精度和测量效率。 

附图说明

图1为尾翼座零件的结构示意图。 

图2为孔斜度测量机构的立体图。 

图3为测量方法的示意图。 

具体实施方式

如图1和图2所示,一种孔斜度测量机构,在支座1上设有定位机构,在定位机构的前方两端分别设有限位块19,在两个限位块19之间设有表架18,测量仪表20通过弹簧套17贯穿于表架18的上端;在测量仪表20的测量针下方设有限位轴9,限位轴9的轴线位于待测尾翼座肋台的开口处。 

如图3所示,一种孔斜度测量机构对斜孔的测量方法,包括以下步骤: 

1)将待测零件固定在定位机构上,将与待测斜孔直径相等的测量销13插入到待测斜孔内,测量销13的两端分别从待测零件肋台两侧伸出;

2)调节待测零件,将测量销13的外圆面顶到限位轴9的上方;

3)将表架18的一侧顶到其中一个限位块19的端面,将测量仪表20向下压,使表针顶到测量销13的一端的高度,并记录表针的数值A;

4)将表架18的另一侧顶到另一个限位块19的端面,将测量仪表20向下压,使表针顶到测量销13的另一端的高度,并记录表针的数值B;

5)通过数值A与数值B得出高度差,如果高度差在允许范围内,该工件斜孔角度合格,反之不合格。

如图3所示,数值A与数值B的高度是差即为H值,由于测量销13位于测量C点的位置固定,所以,当斜孔的倾角a有细微变化,则在高度差H中即可体现,从而实现测量准确,提高测量效率。 

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