[发明专利]大口径离轴非球面光学元件几何参数的测算方法

说明书

技术领域

本发明涉及光学检测领域，具体涉及大口径离轴非球面光学元件几何参数的测算方法。

背景技术

随着空间光学与天文光学的迅速发展，大口径离轴非球面光学元件的需求日益增多。在光学设计中使用非球面元件，能够比球面元件更有效地校正像差。离轴非球面元件还能够避免中心遮拦，保证结构紧凑，提高传递函数，实现大视场。故而以大口径离轴非球面元件为核心的光学系统在空间遥感、天文观测、深空探测等领域倍受青睐。

非球面元件的加工和检测难度远高于球面元件。非球面上顶点以外的各点曲率半径与顶点处的曲率半径各不相同，离轴特性又使得虚顶点位置难以测量，导致离轴非球面元件的几何参数（顶点曲率半径、圆锥系数、高次系数等）很难准确测量。在光学系统中，非球面元件几何参数的检测准确性是确保整个系统性能的前提，故对于大口径离轴非球面镜，需要寻求一种具有高精度、高可靠性且通用性好的几何参数测量方法。

目前非球面元件几何参数的测量方法分为非接触测量与接触测量两种。非接触测量方法主要是基于光波面补偿的干涉测量，非球面的几何参数是由面形数据拟合得到，面形测量中的微小误差可能导致较大的几何参数测量误差，且测量系统通常较复杂。接触测量使用三坐标机或激光跟踪仪即可实现，其测量准确度与测量过程以及数据处理方式有关。王孝坤等人的专利中提出的使用干涉仪与激光跟踪仪共同测量曲率半径的方法仅适用与光学球面元件的检测。而李锐刚等人的专利中提出的采用激光跟踪仪测量非球面顶点半径的方法中，需要测算非球面顶点的空间位置，对于离轴非球面元件不再适用。

发明内容

本发明为解决现有大口径离轴非球面光学元件几何参数难以准确测量的问题，提供一种大口径离轴非球面光学元件几何参数的测算方法。

大口径离轴非球面光学元件几何参数的测算方法该方法由以下步骤实现：

步骤一、调整补偿器、干涉仪与待检非球面光学元件同轴；

步骤二、采用激光跟踪仪与球形角锥反射镜分别测量补偿器柱面的坐标数据以及待检非球面光学元件镜面处的坐标数据；

步骤三、利用步骤二获得的补偿器柱面的坐标数据，拟合待检非球面光学元件的光轴方向；具体为：对补偿器柱面的坐标数据，通过最小化测量点到光轴距离的标准差，计算获得测量坐标系下的待检非球面光学元件光轴方向；

步骤四、依据拟合的光轴方向将测量坐标系下待检非球面光学元件的坐标测量点进行旋转，使旋转后的测量点对应的光轴与测量坐标系下的Z轴平行；

步骤五、对旋转后的待检非球面光学元件的球形角锥反射镜球心测量点坐标，进行非线性最小二乘拟合，获得待检非球面光学元件的几何参数。

本发明的有益效果：

一、本发明采用激光跟踪仪的高精度选项测量坐标数据，并在测量中保证激光跟踪的旋转角编码器移动较小，从而一定程度上提高坐标的测量精度。利用补偿器与待检非球面的共轴关系，将待检非球面处的坐标测量点旋转至光轴与Z轴平行的位置，从而可以精确分析测量点的数学模型，并利用计算机进行曲面拟合得到非球面光学元件的几何参数。其数据处理过程包含如下三个核心步骤：a、拟合光轴：对补偿器圆柱面处的坐标数据，通过最小化测量点到光轴距离的标准差，计算得到测量坐标系下的光轴方向。b、旋转待检非球面镜处测量点坐标：按照将测量坐标系下的光轴旋转至Z轴方向的旋转矩阵，将待检非球面镜处的坐标测量点旋转至新的位置。c、拟合角锥反射镜球心所在曲面在接触测量离轴非球面元件时，球形角锥反射镜的球心与待测非球面元件之间满足固定的几何关系，球心测量点构成一个包络曲面。使用计算机辅助推导，可以得到该球心包络曲面的曲面方程。对旋转后的非球面镜处的测量点，用导出的球心所在曲面方程进行拟合，使用置信域算法进行求解非球面镜的几何参数。从给定的初始解出发，在逐步迭代中计算试探步长，校正置信域，从而不断改进直至获得近似最优解。

二、本发明通过尽量保证激光跟踪仪的旋转角编码器移动较小，并使用激光跟踪仪的高准度选项，以及采用精准的曲面拟合模型计算非球面镜的几何参数，有效提高了测算精度，而且测量简便快捷、重复性好。本发明可应用于大口径离轴非球面镜的抛光阶段或最终检测阶段的几何参数测量。

附图说明

图1为本发明所述的大口径离轴非球面光学元件几何参数的测算方法的检测装置图；

图2为本发明所述的大口径离轴非球面光学元件几何参数的测算方法中补偿器的柱面测量示意图；

图3为本发明所述的大口径离轴非球面光学元件几何参数的测算方法中待检非球面光学元件的测量示意图；