[发明专利]错误检测和纠正装置及方法、失配检测装置及存储器系统有效
申请号: | 201310513810.2 | 申请日: | 2013-10-25 |
公开(公告)号: | CN103811075B | 公开(公告)日: | 2018-02-02 |
发明(设计)人: | 阪井塁;藤波靖;足立直大;筒井敬一;新桥龙男;池谷亮志 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G11C29/42 | 分类号: | G11C29/42 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 余刚,吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 错误 检测 纠正 装置 方法 失配 存储器 系统 | ||
1.一种错误检测和纠正装置,包括:
码字读出单元,执行读取处理以从存储器地址读出包括多个码元的码字作为读取数据,并且在自读出所述读取数据的时间逝去RTN周期后,执行再读取处理以从所述存储器地址读出码字作为再读取数据,所述多个码元通过检测删除位置来提高错误纠正能力,其中,所述RTN周期是随机电报噪声使数据值波动的周期;
定时控制删除位置检测单元,用于通过确定所述读取数据和所述再读取数据中每个码元的值是否匹配,来将具有不匹配值的码元的位置检测作为所述码字中的所述删除位置;以及
错误纠正单元,基于被检测出所述删除位置的所述码字中的所述删除位置纠正错误。
2.根据权利要求1所述的错误检测和纠正装置,其中,当检测出的所述删除位置的总数量超出对应于所述错误纠正能力的预定数量时,所述错误纠正单元以对应于所检测出的删除位置中的所述删除位置的总数量与所述预定数量之间的差的数量的位置不是删除位置的方式纠正错误。
3.根据权利要求2所述的错误检测和纠正装置,进一步包括:
数据替换单元,当所检测出的所述删除位置的总数量超出所述预定数量时,所述数据替换单元用具有特定值的数据替换数目对应于所述差的所述删除位置处的码元,并将经替换的码元提供给所述错误纠正单元,
所述错误纠正单元以被具有所述特定值的数据替换的位置不是所述删除位置的方式纠正错误。
4.根据权利要求3所述的错误检测和纠正装置,其中,基于将所述码元的两个值中的一个值反转到另一个值的可能性以及将所述码元的另一个值反转到所述一个值的可能性,来确定所述特定值。
5.根据权利要求1所述的错误检测和纠正装置,进一步包括:
阀值控制读出单元,将用于确定被保持在所述存储器地址中的所述码元的值是两个值中哪一个的阀值控制为第一值,从所述存储器地址读出所述码字作为第一数据,将所述阀值控制为不同于所述第一值的第二值,以及从所述存储器地址读出码字作为第二数据;以及
阀值控制删除位置检测单元,用于确定所述第一数据和所述第二数据中每个码元的值是否匹配,以及检测具有不匹配值的码元的位置作为所述码字中的删除位置,
所述错误纠正单元对所述定时控制删除位置检测单元检测出所述删除位置的所述码字中的错误进行纠正,以及对所述阀值控制删除位置检测单元检测出所述删除位置的码字中的错误进行纠正。
6.根据权利要求1所述的错误检测和纠正装置,进一步包括:
读取数据错误检测单元,当所述码字读出单元执行读取处理时,检测所述读取数据中的错误,
当所述读取数据错误检测单元检测到所述错误时,所述码字读出单元执行再读取处理。
7.根据权利要求1所述的错误检测和纠正装置,进一步包括:
获取温度的温度获取单元;以及
确定单元,根据所述读取处理被执行前的温度,确定所述RTN周期的长度,
当所述RTN周期的长度被确定时,所述码字读出单元执行所述读取处理。
8.一种失配检测装置,包括:
码字读出单元,执行读取处理以从存储器地址读出包括多个码元的码字作为读取数据,并且在自读出所述读取数据的时间逝去RTN周期后,执行再读取处理以从所述存储器地址读出码字作为再读取数据,其中,所述RTN周期是随机电报噪声使数据值波动的周期;
失配检测单元,检测所述读取数据和所述再读取数据是否失配;以及
登记单元,将检测出所述失配的所述存储器地址作为禁止进行存取的缺陷地址来登记。
9.根据权利要求8所述的失配检测装置,其中,所述失配检测单元确定每个码元的值是否失配,以及其中当被确定为失配的码元的数量超出预定阀值时,所述登记单元将所述存储器地址登记为缺陷地址。
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