[发明专利]TTL信号频率跳变监测系统和方法有效

专利信息
申请号: 201310513563.6 申请日: 2013-10-24
公开(公告)号: CN103645379A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: 谭旭璋;范麟;万天才;苏良勇;陈昆;王露 申请(专利权)人: 重庆西南集成电路设计有限责任公司
主分类号: G01R23/10 分类号: G01R23/10
代理公司: 重庆市前沿专利事务所(普通合伙) 50211 代理人: 郭云
地址: 401332 重庆*** 国省代码: 重庆;85
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: ttl 信号 频率 监测 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及信号检测技术领域,具体涉及TTL信号频率跳变监测系统和方法。 

背景技术

随着现代通信、雷达和电子对抗技术的飞速发展,在各种复杂电磁环境下,计数式分频器的计数值可能会存在跳变,因此需要测试器件在复杂电磁环境下跳变的次数总和,计算器件在复杂电磁环境下的可靠性。传统的测试方法一是使用频谱分析仪进行监测,监测到频谱发生变化,即表征分频器的计数值在电磁环境下存在一次跳变。在测试时需要昂贵的仪器和控制软件进行计数;二是使用频率计进行测试,测试时需要累积一段时间的脉冲个数,达不到实时监测的目的。 

发明内容

本发明所要解决的问题在于提供TTL信号频率跳变监测系统和方法。 

为了解决上述技术问题,本发明的第一个技术方案是,TTL信号频率跳变监测方法,其特征在于:包括如下步骤: 

第一步:对基准时钟进行倍频处理,得到时钟一; 

第二步:将待监测时钟进行分频处理,得到时钟二;用时钟一控制触发器对时钟二分别延时N ns、2N ns,得到时钟三、四; 

第三步:将时钟三与时钟四异或处理得到时钟五; 

第四步:使用计数器对时钟一进行计数;当时钟五为高电平时,计数器清零;当时钟五为低电平时,计数器开始计数;当时钟五的上升沿到来时,锁存计数值; 

第五步:将锁存的计数值用时钟五进行延时一个周期,得到数值二; 

第六步:在时钟五的每个上升沿将锁存的计数值与数值二比较,即可得到 时钟五的当前周期与上一周期的频率差值,如果该差值大于等于给定值,就进行次数加1,表征该信号存在跳变1次。 

本发明的第二个技术方案是,TTL信号频率跳变监测系统,包括基准时钟发生器、PC机、FPGA;在FPGA中嵌有CPU和PLL锁相环,组成SOC片上系统;其特征在于:基准时钟发生器产生的基准时钟输入PLL锁相环,PLL锁相环对基准时钟进行倍频处理,得到时钟一输入到FPGA中的可配置逻辑模块;待监测时钟信号输入可配置逻辑模块,可配置逻辑模块对待监测时钟进行分频处理,得到时钟二;并且时钟一控制可配置逻辑模块中的触发器对时钟二分别延时N ns、2N ns,得到时钟三、四;并对时钟三与时钟四异或处理得到时钟五;利用可配置逻辑模块中的计数器对时钟一进行计数;当时钟五为高电平时,计数器清零;当时钟五为低电平时,计数器开始计数;当时钟五的上升沿到来时,锁存计数值;将锁存的计数值用时钟五进行延时一个周期,得到数值二;并在时钟五的每个上升沿将锁存的计数值与数值二比较,得到时钟五的当前周期与上一周期的频率差值,如果该差值大于等于给定值,就进行次数加1,表征该信号存在跳变一次;CPU接收PC机控制指令,向PC机发送待监测时钟信号跳变次数的总和。 

本发明利用FPGA的内部PLL资源对外接高精度基准时钟进行倍频,得到高频时钟。再利用高频时钟对待监测的低频时钟进行周期采样,根据奈奎斯特采样定律,采用2倍以上的采样时钟能够真实还原信号。本方案所监测的TTL时钟频率范围为1.562~100M赫兹。采样时钟频率最小为待监测时钟频率的4倍,最大可以达到256倍,最小监测跳变时间为5ns。待监测时钟由SMA接头引入FPGA的全局时钟管脚,用高频时钟采样2拍,实现跨时钟域的同步;利用组合逻辑将信号转变为1.5ns--3.5ns脉宽的脉冲模式,在脉冲的高电平时间清零计数器,低电平时间计数器计数,实现对信号的采样;同步使用待监测时钟上升沿将计数值锁存到两级锁存器中,再对两级锁存器中的数据进行比较,实现对待监测时钟的逐周期比较,从而 达到监测时钟跳变的目的。 

本发明所述的TTL信号频率跳变监测系统和方法的有益效果是:本发明具有实时性、低成本的特点,可简单、快捷的实现1.562M~100M赫兹的TTL信号频率跳变检测,能够得到在某段时间内TTL信号频率跳变的累积次数,检测方便,准确;可广泛应用于现代通信、雷达和电子对抗技术中。 

附图说明

图1是本发明所述的TTL信号频率跳变监测系统的原理框图。 

图2是本发明所述的TTL信号频率跳变监测方法的流程图。 

图3是TTL信号频率跳变监测的仿真图。 

具体实施方式

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆西南集成电路设计有限责任公司,未经重庆西南集成电路设计有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310513563.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top