[发明专利]光模块误码测试装置及方法有效
申请号: | 201310513440.2 | 申请日: | 2013-10-25 |
公开(公告)号: | CN103532618A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 张明利;游为华;周世军;杨浩;王冉;何涛勇 | 申请(专利权)人: | 武汉邮电科学研究院 |
主分类号: | H04B10/07 | 分类号: | H04B10/07 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 严彦 |
地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 模块 测试 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及通信技术领域,尤其是涉及一种光模块误码测试的装置及方法。
背景技术
随着通信技术的发展和市场竞争的日趋激烈,各运营商对设备的性能提出了越来越高的要求,除了要求软硬件支持平滑升级、兼容性强、成本低廉、绿色环保等外,还要保证产品功能的稳定可靠,误码率是衡量通信系统质量的一个重要指标。
在分布式基站系统中,RRU(Remote Radio Unit,远端射频单元)的作用主要是完成从基带载波数据到射频信号的调制,以及从射频信号到基带载波数据的解调,RRU通过SFP( SMALL FORM PLUGGABLE) 光模块实现与BBU(Base Band Unit,基带单元)的通信。SFP 光模块可支持可热拔插等功能, 在现在的光通信产品中, SFP 光模块越来越得到青睐, 已经得到普遍使用。
由于LTE(Long Term Evolution,长期演进)设备中,BBU与RRU间的通信速率越来越高,这就对LTE设备在通信中信号完整性提出了更高的要求,而光模块直接影响着系统,在众多的光模块产品中,选择适合系统的光模块是保证产品功能的稳定可靠的前提。
作为光模块厂商,光模块的误码测试一般是通过误码测试仪完成,由于这种测试只是对SFP光模块在相对独立的环境下进行,没有进入到实际的应用中进行测试,而且光模块的通信速率在逐步提高,因此在实际的工程应用中容易出现接口的不匹配,在实际工程应用中出现问题,不满足通信协议中对误码率的要求,所以在选用光模块的同时,必须对光模块的质量进行检测,测试其误码率,以保证产品稳定性和可靠性。
由此可见,需要一种新的光模块误码测试装置。
发明内容
本发明的目的是为了克服传统方法存在的缺陷,以保证数据传输的稳定性及可靠性为核心,提供了一种通用性强、架构实现简单、有利于系统稳定性的光模块误码测试的装置和方法,实现了误码的测试与统计。
本发明的技术方案为一种光模块误码测试装置,包括两块RRU数字中频盘,分别记为RRUA和RRUB,所述数字中频盘包括光电转换模块、CPU模块、FPGA处理模块、Serdes模块和CLOCK模块,CPU模块与FPGA处理模块和上位PC机分别连接,FPGA处理模块、Serdes模块和光电转换模块依次连接,CLOCK模块与CPU模块、Serdes模块和FPGA处理模块分别相连,其中光电转换模块为待测的光模块,RRUA和RRUB的光电转换模块通过光纤相连接;
所述CPU模块,用于支持系统控制和信息交互,包括配置FPGA处理模块和时钟模块,以及接受上位PC机的监控;
所述FPGA处理模块,用于产生和对比数据;
所述Serdes模块,用于完成数据的串并转换,同时改变数据的速率;
所述时钟模块,用于向CPU模块、FPGA处理模块和Serdes模块提供时钟。
而且,所述RRUB设于温箱中。
而且,所述CPU模块通过配置FPGA处理模块和时钟模块的寄存器使FPGA处理模块、Serdes模块和时钟模块根据配置信息正常工作,同时根据上位PC机的监控命令完成信息的打印、程序烧录和调试指令的键入。
而且,所述FPGA处理模块包括测试数发送模块、数据比对校验模块和信息保存寄存器,
所述测试数发送模块,用于产生数据,所述数据为递增数,
所述数据比对校验模块,用于比对递增数,检测低速口误码;
所述的寄存器,用于完成FPGA处理模块的配置,同步两个RRU数字中频盘以及在完成比对误码后误码个数的统计。
而且,所述Serdes模块包括数据串并转换模块和时钟恢复模块,
所述数据串并转换模块,用于实现数据的串并转换,并且完成高速口误码的比对校验;
RRUB中的时钟恢复模块,用于从高速数据中恢复时钟,作为RRUB的参考时钟源。
而且,所述时钟模块给FPGA处理模块和Serdes模块提供正常工作的时钟信号,RRUA采用外部参考源或晶振作为参考时钟,RRUB采用时钟恢复模块恢复的时钟作为参考时钟。
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