[发明专利]光模块误码测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310513440.2 申请日: 2013-10-25
公开(公告)号: CN103532618A 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 张明利;游为华;周世军;杨浩;王冉;何涛勇 申请(专利权)人: 武汉邮电科学研究院
主分类号: H04B10/07 分类号: H04B10/07
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 严彦
地址: 430074 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 模块 测试 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及通信技术领域,尤其是涉及一种光模块误码测试的装置及方法。

背景技术

随着通信技术的发展和市场竞争的日趋激烈,各运营商对设备的性能提出了越来越高的要求,除了要求软硬件支持平滑升级、兼容性强、成本低廉、绿色环保等外,还要保证产品功能的稳定可靠,误码率是衡量通信系统质量的一个重要指标。

在分布式基站系统中,RRU(Remote Radio Unit,远端射频单元)的作用主要是完成从基带载波数据到射频信号的调制,以及从射频信号到基带载波数据的解调,RRU通过SFP( SMALL  FORM  PLUGGABLE) 光模块实现与BBU(Base Band Unit,基带单元)的通信。SFP 光模块可支持可热拔插等功能, 在现在的光通信产品中, SFP 光模块越来越得到青睐, 已经得到普遍使用。

由于LTE(Long Term Evolution,长期演进)设备中,BBU与RRU间的通信速率越来越高,这就对LTE设备在通信中信号完整性提出了更高的要求,而光模块直接影响着系统,在众多的光模块产品中,选择适合系统的光模块是保证产品功能的稳定可靠的前提。

作为光模块厂商,光模块的误码测试一般是通过误码测试仪完成,由于这种测试只是对SFP光模块在相对独立的环境下进行,没有进入到实际的应用中进行测试,而且光模块的通信速率在逐步提高,因此在实际的工程应用中容易出现接口的不匹配,在实际工程应用中出现问题,不满足通信协议中对误码率的要求,所以在选用光模块的同时,必须对光模块的质量进行检测,测试其误码率,以保证产品稳定性和可靠性。

由此可见,需要一种新的光模块误码测试装置。

发明内容

本发明的目的是为了克服传统方法存在的缺陷,以保证数据传输的稳定性及可靠性为核心,提供了一种通用性强、架构实现简单、有利于系统稳定性的光模块误码测试的装置和方法,实现了误码的测试与统计。

本发明的技术方案为一种光模块误码测试装置,包括两块RRU数字中频盘,分别记为RRUA和RRUB,所述数字中频盘包括光电转换模块、CPU模块、FPGA处理模块、Serdes模块和CLOCK模块,CPU模块与FPGA处理模块和上位PC机分别连接,FPGA处理模块、Serdes模块和光电转换模块依次连接,CLOCK模块与CPU模块、Serdes模块和FPGA处理模块分别相连,其中光电转换模块为待测的光模块,RRUA和RRUB的光电转换模块通过光纤相连接;

所述CPU模块,用于支持系统控制和信息交互,包括配置FPGA处理模块和时钟模块,以及接受上位PC机的监控;

所述FPGA处理模块,用于产生和对比数据;

所述Serdes模块,用于完成数据的串并转换,同时改变数据的速率;

所述时钟模块,用于向CPU模块、FPGA处理模块和Serdes模块提供时钟。

而且,所述RRUB设于温箱中。

而且,所述CPU模块通过配置FPGA处理模块和时钟模块的寄存器使FPGA处理模块、Serdes模块和时钟模块根据配置信息正常工作,同时根据上位PC机的监控命令完成信息的打印、程序烧录和调试指令的键入。

而且,所述FPGA处理模块包括测试数发送模块、数据比对校验模块和信息保存寄存器,

所述测试数发送模块,用于产生数据,所述数据为递增数,

所述数据比对校验模块,用于比对递增数,检测低速口误码;

所述的寄存器,用于完成FPGA处理模块的配置,同步两个RRU数字中频盘以及在完成比对误码后误码个数的统计。

而且,所述Serdes模块包括数据串并转换模块和时钟恢复模块,

所述数据串并转换模块,用于实现数据的串并转换,并且完成高速口误码的比对校验;

RRUB中的时钟恢复模块,用于从高速数据中恢复时钟,作为RRUB的参考时钟源。

而且,所述时钟模块给FPGA处理模块和Serdes模块提供正常工作的时钟信号,RRUA采用外部参考源或晶振作为参考时钟,RRUB采用时钟恢复模块恢复的时钟作为参考时钟。

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