[发明专利]一种透明基底上石墨烯层数测量方法

权利要求书

1.一种透明基底上石墨烯层数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：将石墨烯转移或直接制备到透明基底上；

步骤2：通过折射率匹配液将透明基底帖附于棱镜表面，透明基底没有石墨烯的一面与棱镜接触；

步骤3：将带有石墨烯的棱镜置于移动平台上，光束通过玻片后产生圆偏振光，通过棱镜、折射率匹配液和透明基底，在透明基底／石墨烯／空气界面发生全反射，最后将反射的光束利用偏振分束器分束，分出的两种偏振光分别照射在平衡探测器的两个探头；

步骤4：利用平衡探测器对电压信号进行采集，同时控制平台与平衡探测器对石墨烯样品进行扫描，得到一系列光斑位置与平衡探测器的电压信号；

步骤5：将电压信号转换为偏振光吸收率之差，根据测量装置的具体参数(如棱镜、石英片折射率等)，利用菲涅耳公式计算出不同层数石墨烯对应的吸收率之差；

步骤6：最后将实验测得的吸收率之差与理论值进行对比从而得到石墨烯的层数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的石墨烯可以为化学气相沉积方法获得或由机械剥离法获得。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的透明基底的透明光谱范围为可见波段或近红外波段，如石英片等刚性材料，或聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)等柔性材料。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的移动平台可以为一维或二维方向的移动，从而获得石墨烯层数的形貌信息。