[发明专利]导弹自动化阻值测试系统

说明书

  

技术领域

本发明涉及阻值测试系统，具体涉及一种导弹自动化阻值测试系统。 

  

背景技术

在导弹研制过程中，每一个舱段都是通过接口和其它模块组成有机的整体，这些接口的特性反映了各个舱段的内部状况，导弹阻值是接口节点两两之间的阻值，是描述接口特性的重要指标之一，通过阻值测量，可以分析各个舱段内部是否存在隐患，例如内部电路由各种原因引起的短路、开路、元器件异常等等。 

阻值测试贯穿于导弹研制整个过程，其结果是鉴定设备电子学特性的重要指标。目前传统的阻值测试方法是用万用表手动逐点测量，效率很低，耗费科研人员大量的时间和精力，而且人工测试很容易由于操作原因带来误差；同时阻值测量系统需要对被测对象进行全方位检测，信号较多，这也使得测试系统产生的数据量急剧增长，面对大量的数据信息，无论是手工数据管理还是文件系统管理方式都无法正确反映各类数据之间的密切联系，也都不能有效的管理和组织数据。 

  

发明内容

本发明的目的在于提供一种导弹自动化阻值测试系统，以提高导弹阻值测试的效率、准确性和自动化程度。 

为了达到上述的目的，本发明提供一种导弹自动化阻值测试系统，包括第一矩阵开关、第二矩阵开关、万用表笔卡、计算机和标准电阻；所述第一矩阵开关、第二矩阵开关和万用表笔卡均与所述计算机连接；所述标准电阻与所述第二矩阵开关连接，待测导弹阻值与所述第一矩阵开关连接；所述万用表笔卡可选择地与所述第一矩阵开关或第二矩阵开关连接；自检时，所述标准电阻和万用表笔卡通过第二矩阵开关形成测试回路，阻值测量时，所述待测导弹阻值和万用表笔卡通过第一矩阵开关形成测试回路。 

上述导弹自动化阻值测试系统，其中，将所述第一矩阵开关的开关平均分成两组，第一组开关的一端与第二组开关的一端一一对应连接，第一组所有开关的另一端并联在一起，第二组所有开关的另一端并联在一起；将所述第二矩阵开关板卡的开关平均分成两组，第一组开关的一端与第二组开关的一端一一对应连接，第一组所有开关的另一端并联在一起，第二组所有开关的另一端并联在一起；所述标准电阻的两端分别与所述第二矩阵开关中任意两个开关的未并联在一起的端连接；所述万用表笔卡正表笔和负表笔可选择地分别与所述第一矩阵开关中或第二矩阵开关中任意两个开关的未并联在一起的端连接。 

上述导弹自动化阻值测试系统，其中，所述第一矩阵开关第一组开关的未并联在一起的端与所述第二矩阵开关第一组开关的未并联在一起的端一一对应连接，所述第一矩阵开关第二组开关的未并联在一起的端与所述第二矩阵开关第二组开关的未并联在一起的端一一对应连接，所述万用表笔卡正表笔和负表笔分别与所述第一矩阵开关中任意两个开关的未并联在一起的端连接。 

上述导弹自动化阻值测试系统，其中，所述标准电阻的两端分别与所述第二矩阵开关同组开关中任意两个开关的未并联在一起的端连接。 

上述导弹自动化阻值测试系统，其中，所述标准电阻为两个以上。 

上述导弹自动化阻值测试系统，其中，所述万用表笔卡正表笔和负表笔分别与所述第一矩阵开关同组开关中任意两个开关的未并联在一起的端连接。 

本发明的导弹自动化阻值测试系统实现了导弹阻值测试的自动化，减少传统人工测试的误差，极大地提高了测试效率，并且缩短了导弹阻值的测试时间和繁琐度。 

本发明的导弹自动化阻值测试系统可以任意选择通道，大大增强了本阻值测试系统的灵活性。 

  

附图说明

本发明的导弹自动化阻值测试系统由以下的实施例及附图给出。 

图1是本发明实施例中矩阵开关板卡的拓扑结构图。 

图2是本发明实施例中测量导弹阻值的示意图。 

  

具体实施方式

以下将结合图1对本发明的导弹自动化阻值测试系统作进一步的详细描述。 

本发明的导弹自动化阻值测试系统包括第一矩阵开关、第二矩阵开关、万用表笔卡、计算机和标准电阻； 

所述第一矩阵开关、第二矩阵开关和万用表笔卡均与所述计算机连接；

所述标准电阻与所述第二矩阵开关连接，待测导弹阻值与所述第一矩阵开关连接；

所述万用表笔卡可选择地与所述第一矩阵开关或第二矩阵开关连接；

自检时，所述标准电阻和万用表笔卡通过第二矩阵开关形成测试回路，阻值测量时，所述待测导弹阻值和万用表笔卡通过第一矩阵开关形成测试回路。