[发明专利]一种发光二极管结构在审
| 申请号: | 201310499936.9 | 申请日: | 2013-10-22 |
| 公开(公告)号: | CN103594601A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
| 发明(设计)人: | 丛国芳 | 申请(专利权)人: | 溧阳市东大技术转移中心有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/48 | 分类号: | H01L33/48 |
| 代理公司: | 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 | 代理人: | 黄明哲 |
| 地址: | 213300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 发光二极管 结构 | ||
1.一种发光二极管结构,自下而上依次具有铜衬底、GaN缓冲层、AlInN层、n-GaN层、多量子阱层、p-AGaN层、p-GaN层。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:
其中,GaN缓冲层的厚度为30-45nm,AlInN层的厚度为80-150nm,n-GaN层的厚度为3-5μm,多量子阱层厚度为30-80nm,p-AGaN层40-60nm,p-GaN层200-300nm;铜衬底的厚度为120-150微米。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于:
优选地,GaN缓冲层的厚度为40nm,AlInN层的厚度为120nm,n-GaN层的厚度为4μm,多量子阱层厚度为60nm,p-AGaN层55nm,p-GaN层260nm;铜衬底的厚度为130微米。
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